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測量粒徑分佈的測量原理有很多,從簡單的篩檢或顯微鏡等方法到更複雜利用光的方法,如雷射衍射/散射、動態光散射、離心沉降和顆粒軌跡分析。
雷射衍射/散射法利用了散射光強度(散射圖案)隨粒子尺寸變化的散射角依賴性現象。
布朗運動在粒子小時移動迅速,在粒子大時移動緩慢。當這些粒子受到雷射光照射時,由於布朗運動,散射光的強度會產生波動。因此,從小粒子會得到快速變化的波動信號,而從大粒子會得到緩慢變化的波動信號。動態光散射是通過分析這些波動信號來計算粒子大小的方法。
顆粒沉降時會受到阻力和浮力的作用,較大的顆粒沉降速度較快,較小的顆粒沉降速度較慢。這種現象可用於以尺寸分離顆粒以進行分析。離心沉降法是一種透過測量顆粒在離心力作用下的運動速度(沉降速度)來確定顆粒尺寸的方法。
Zeta電位是指顆粒在剪切面上的電荷。此表面電荷值有助於理解和預測懸浮液中顆粒間的相互作用。調控zeta電位可以提高懸浮液的穩定性(例如用於製劑配製)或加速顆粒絮凝(例如用於水處理)。利用電泳光散射法測量zeta電位,可以評估各種調控zeta電位策略的效果。
利用不同光譜波段的多束光束產生光片,用於照射液體樣品中的奈米顆粒。探測器用於捕獲奈米顆粒散射光的圖像。影像隨時間推移被記錄,形成影片。分析這些視頻,計算每個被追蹤奈米顆粒的布朗擴散係數,並最終計算其直徑。綜合數據揭示了奈米顆粒在預設尺寸區間內的分佈。
可以透過拍攝顆粒照片來確定顆粒的大小和形狀。由於典型的顆粒樣本包含各種大小和形狀的顆粒,現代分析方法是利用電腦自動分析顆粒影像,從而快速確定顆粒的大小和形狀。然後,可以將大量顆粒的數據匯總成描述樣本特徵的分佈圖。