Search
English
Corporate
China
产品
流体控制
质量流量控制
液体源汽化系统
压力控制
气体监测仪
电容压力计
全自动薄膜量测系统
流体控制系统
等离子体分析
废气分析仪
薄膜生长监控
颗粒分析
化学药液浓度计
粒度分析
表面分析光谱仪
薄膜分析
缺陷/杂质分析
发光分析光谱仪
制程控制
清洗
沉积
流体控制
数字质量流量控制器
质量流量控制
通用型质量流量控制器
红外测温仪
液体质量流量计
自动供液系统
气体监测仪
质量流量控制器
质量流量控制
椭圆偏振光谱
制程监控与控制
光学发射光谱技术
液体源汽化系统
光刻
颗粒检测
清洗
光罩存储装置
材料分析
蚀刻
材料表征
阴极荧光
元素深度剖析
纳米拉曼
拉曼光谱
光致发光
紫外-可见荧光
元素分析
化学机械研磨（CMP）
厂务
自供电发电机
回收
洁净室解决方案
屋顶擦洗器
散装供应（液化气体储存）
气体/液体钢瓶房
POU 减排处理
超纯水
有机废水处理设施
无机废水处理设施
激光气体分析仪
技术
流体控制
红外测量
液体测量
光谱分析
粒径分析
工业
FPD 制程
光伏制造工艺
晶体硅
薄膜硅
合成 CIGS
有机染料敏化
陶瓷电容压力计
真空镀膜
钻石 (MPCVD)
金刚石 MPCVD 专用质量流量控制器
光纤
鼓泡系统
注入系统
烘烤系统
其他
气体分析
生物制程
电导率仪
质量流量控制器
排气压力控制器
溶解氧测定仪
pH计
环境
食品 & 饮料
冷冻干燥
燃料电池
工业炉
试验气体生成
超导体
纳米技术
联系
联系我们
Country / Region
Change
HORIBA
»
半导体
Oops, an error occurred! Code: 20251222180159c2a500e8