光致发光方法能以非接触、非破坏的方式，对化合物半导体的组分、缺陷、量子阱、杂质及结晶质量进行评估。在硅基半导体中，该方法也用于硅材料中痕量杂质的分析。

凭借光谱仪器制造商特有的定制能力，我们可满足从基础研究到质量检测图谱测绘的广泛需求。