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HORIBA提供各类测量仪器,用于监测半导体制造工艺中使用的化学试剂浓度、控制清洗工序所必需的超纯水纯度,以及进行废水处理。从生产日益高性能的半导体,到为保护环境而进行的废水处理,HORIBA始终以先进的测量技术,为半导体制造工艺及相关设施提供全面支持。
一种通过测量光线穿过样品时的吸收量来检测浓度的方法
一种通过测量溶液中的电位来确定pH值的方法
一种通过测量溶液中的离子来确定离子浓度的方法
一种通过在溶液中放置电极,测定电流流动难易程度的方法
又称隔膜电极法或隔膜原电池电极法,该方法通过对电极施加电压,并测量随溶液成分变化的电流大小,以确定目标组分的浓度
一种使光线穿过溶液,根据光线被吸收的程度来确定目标组分浓度的方法