粒径分析

粒度表征技术(粒径、数量、分子量及成分分析)

测量粒度分布的方法有多种原理,从简单的筛分法或显微镜法,到更复杂的光学方法如激光衍射/散射法、动态光散射法、离心沉降法和颗粒轨迹分析法等。

静态光散射 (SLS) / 激光衍射粒径分布分析

激光衍射/散射法利用了散射光强度随角度变化的特性(散射图谱),这种变化会因颗粒尺寸不同而有所差异。

动态光散射 (DLS) 粒度分布分析

布朗运动在颗粒较小时运动迅速,在颗粒较大时运动缓慢。当这些颗粒受到激光照射时,散射光强度会因布朗运动而产生波动。因此,小颗粒会得到快速变化的波动信号,大颗粒则得到缓慢变化的波动信号。动态光散射法就是通过分析这些波动信号来计算粒径的。

离心沉降法

当颗粒沉降时,会受到阻力和浮力作用,较大颗粒沉降较快,较小颗粒沉降较慢。这一现象被用来按粒径分离颗粒进行分析。离心沉降法是通过测定颗粒在离心力作用下的运动速度(沉降速度)来确定粒径的方法。

Zeta 电位:测定原理、计算方式与分析技术

Zeta 电位是指颗粒在剪切平面上的电荷值。这一表面电荷参数对于理解和预测悬浮液中颗粒间的相互作用具有重要意义。调控 Zeta 电位既可用于制剂工作中增强悬浮液稳定性,也能应用于水处理等领域加速颗粒絮凝。通过电泳光散射技术测量 Zeta 电位,可评估不同调控策略的实际效果。

纳米颗粒追踪分析

采用多束不同光谱波段的激光形成单一光片,用以照射液体样品中的纳米颗粒。检测器配置用于捕获纳米颗粒散射的光信号图像,通过时序记录形成视频。分析视频数据计算每个被追踪纳米颗粒的布朗扩散系数,最终测算其粒径。整合数据可呈现纳米颗粒在预设粒径区间的分布情况。

图像分析技术

颗粒尺寸和形状可通过粒子图像进行测定。由于典型颗粒样品包含多种尺寸和形状,现代分析技术采用计算机自动解析颗粒图像,快速测定其尺寸形态。通过对大量颗粒数据的采集,最终可形成描述样品特征的分布统计结果。

▶ 更多半导体产业材料表征及制程监控技术

Corporate