测量模式

空气中接触AFM；

液体接触AFM（可选）；

空气中的半接触原子力显微镜；

液体半接触原子力显微镜（可选）；

真正的非接触式原子力显微镜；

动态力显微镜（DFM、FM-AFM）；

耗散力显微镜；

Top模式；

相位成像；

侧向力显微镜（LFM）；

力调制；

导电原子力显微镜（可选）；

I-Top模式（可选）；

磁力显微镜（MFM）；

开尔文探针（表面电位显微镜）；

单通开尔文探头；

电容显微镜（SCM）

电力显微镜（EFM）；

单通道MFM/EFM（“平面扫描”）；

力曲线测量；

压电响应力显微镜（PFM）；

PFM Top模式；

纳米光刻技术；

纳米操纵；

STM（可选）；

光电流成像模式（可选）；

伏安特性测量（可选）；

带音叉的剪切力显微镜（ShFM）；

音叉法向力显微镜。

液体测量模式（测试头HE001）

接触模式AFM；

半接触原子力显微镜；

Top Mode；

相位成像；

侧向力显微镜；

力调制；

力曲线测量；

纳米蚀刻；

纳米操纵。

SmartSPM扫描器和基座

闭环平板扫描器： 100 µm x 100 µm x 20 µm (±10 %)

扫描器非线性：XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪声水平：XY≤0.1 nm RMS（200 Hz带宽，电容传感器打开）；XY≤0.02 nm RMS（100 Hz带宽，电容传感器关闭）；Z＜0.1 nm RMS （1000 Hz带宽，电容传感器开）

高频扫描器：XY≥7 kHz; Z≥15 kHz

基座

• 手动样品定位范围：25 mm×25 mm
• 电动SPM测量头定位范围：1.6 mm×1.6 mm
• 电动趋近量程：1.3 mm
• 标准载玻片和盖玻片样品架
• 样品尺寸（可选）：≥50.8 mm×50.8 mm×5 mm（中心25 mm×25 mm范围内可以任意区域成像）

AFM测试头HE001

激光波长：1300nm

激光对生物样品无影响；

激光对光电测量无影响

系统噪声：< 0.03 nm

全电动：4步进电机用于悬臂和光电二极管自动对准；

探针通道：为外部操作和探针提供自由通道

顶部和侧向同时光路通道：带平消色差物镜，可同时10x，NA0.28顶部物镜和20x，NA0.42侧向物镜

液体电池（可选）

手动样品定位：15x15mm，定位分辨率1um；

培养皿支架：直径35mm；

液体体积：1.5-2.5ml；

液体交换：双管道

导电力AFM（选购）

电流范围：100fA~10µA;

三档量程自动切换（1nA, 100nA和10µA）

电压范围：-10~ +7V

电流噪声：≤60fA（1nA量程）

兼容倒置光学显微镜：

红外激光对光学成像无干扰；

可兼容以下显微镜：

尼康Ti-E、Ti-U、Ti-S、TE2000；奥林巴斯IX-71，IX-81；

相位反差、DIC和荧光技术（需本征光学聚光器）；

可升级到TRIOS平台，用于光谱和TERS操作。

光学显微镜

数值孔径：NA 0.1；

放大倍率：从85x到1050x（19英寸监视器，1/3英寸CCD）；

水平视野：4.5～0.37mm；

手动变焦：12.5倍；

粗/精对焦单元：

兼容平显色差物镜：10x，NA 0.28和20x，NA 0.42和100x，NA0.7（取决于AFM测试头）

软件系统

自动准直系统；

自动配置标准测量技术；

自动调节悬臂梁共振频率；

能够处理力曲线；

宏语言Lua，用于编程用户函数、脚本和小构件；

能用DSP宏语言对控制器进行实时编程，无需重新加载控制软件；

在坐标空间处理图像的能力，包括制作横截面、拟合和高达8级的多项式曲面减法；

FFT处理，具有在频率空间处理图像的能力，包括滤波和分析；

纳米蚀刻和纳米操纵；

高达5000x5000像素图像的处理能力