F-CLUE

紧凑型高光谱阴极荧光

F-CLUE采用光纤耦合方案,为阴极荧光成像和光谱分析提供了灵活的接口。

F-CLUE的光谱仪模块结构紧凑稳固,可在不同环境安装。比如配备多种探测器的扫描电镜和/或恶劣的工业条件或极端状况(洁净室、移动实验室…)

与整个CLUE系列一样,F-CLUE的紧凑型设计及可收缩收集臂可与任何品牌的扫描电镜耦合,且不会对扫描电镜性能造成限制。

准确的可视化微调收集镜位置,优化收集效率,确保了CL测试性能以及重现性。

由Labspec 6功能庞大的软件组控制,R-CLUE具有独特的先进功能,可用于快速成像和光谱分析(KIA光谱数据库、SWIFT、宇宙线消除、峰值拟合、粒子探测器、拼图、多元分析、立体3D显示…)

事业部: 科学仪器
制造商: HORIBA France SAS

灵活的解决方案,适合各类工作环境:

  • 成像或高光谱CL

  • 牢固的光纤接口

  • 可选椭球或抛物镜,以适应不同需求

  • 软件为LabSpec 6TM

  • 全自动型光谱仪

  • 可选RGB滤光

光谱范围

UV-VIS 或 VIS-NIR 光纤耦合

金刚石切削收集镜

抛物镜
短 & 长工作距离

200 mm 伸缩臂

真空下马达微调

CL 成像探测器

标准: 全色光和单色光CL,室温 PMT
可选:制冷 PMT, IGA 单道, 光子计数器 PMT, 时间分辨 PMT, RGB 滤光片

CL 光谱仪类型

microHR(焦长180mm)或iHR 320(焦长320mm),多达 3 块光栅, 2入口/2出口

升级可行性

可在PL, MicOS系统上升级

电子束控制

CL-LINK 控制多个采集过程 (模拟, 脉冲, SE), 线扫描成像,
点测试,同步光谱测试, 电镜由外部控制扫描

软件

 LabSpec 6™控制光谱仪和成像

远程控制器

可选

Clue 附件

偏振, ND 滤光片, 摄像机, EMCCD 等

SEM 附件

液氦/ 液氮制冷台, EBIC 探测器和其它可兼容 CLUE 系列的附件

用CL方法评估GaN外延片的缺陷
用CL方法评估GaN外延片的缺陷
在蓝宝石衬底上生长的GaN晶体极易出现线位错。据说这是由蓝宝石和GaN的大晶格错配引起的。在SEM图像中,晶体看上去是均一的。但在测量与带边沿发射相对应的波长(362nm)处的CL光强成像时,可以观察到暗斑,如线位错。
阴极荧光光谱测定定位合成CVD金刚石薄膜中的荧光缺陷
阴极荧光光谱测定定位合成CVD金刚石薄膜中的荧光缺陷
利用高光谱阴极荧光光谱和成像技术对合成的CVD金刚石材料进行了表征,为新兴的固态量子力学系统提供了检测和准确定位潜在的NV荧光点缺陷的方法。在这项工作中,我们以金刚石为衬底蚀刻的微柱图案上进行CVD外延生长。阴极荧光(CL)分析显示NV色心成功地定位在柱的边缘。
用CL成像评价白光LED荧光粉
用CL成像评价白光LED荧光粉
荧光粉在获得白光方面起着关键作用,特别是对于蓝色LED+荧光粉和近紫外LED+荧光粉。为了提高高亮度白光LED的荧光性能,必须使整个荧光粉颗粒均匀发荧光。当使用CL测量用作白色LED的荧光粉时,可以观察到荧光粉颗粒中不发荧光的区域。CL系统用于评估非荧光区域,以提高荧光效率和特性。

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