标准配置：包含所有的AFM测量模式

SignatureSPM 的基础配置包含了所有的原子力显微镜测量模式：开尔文探针模式、压电力模式、磁力模式、纳米光刻技术模式、力曲线测量模式。

专为拉曼光谱和光致发光优化的宽谱光谱仪

SignatureSPM 采用专为光谱成像测量所设计的光谱仪，采用消色差光学设计并实现高达 95%的光反射率，确保将光损失降至最低。光谱仪采用3 光栅设计方案，在覆盖宽广的光谱范围的同时，提供独有的高效率的拉曼和光致发光测量。

基于"针尖远离"模式，实现真正的同区域测量

软件的"针尖远离"指令可使悬臂梁从样品表面移开，从而获得完全无遮挡的共焦拉曼成像测量图谱。而通过"针尖复位"指令，原子力显微镜探针将自动返回到样品表面原来的分析点位。

高光学通量直达悬臂顶端的光路设计

AFM 与光谱测量采用完全分离的光路设计。

这种分离设计可让用户自由选择拉曼/光致发光(PL)激光波长，并简化了整个系统的调整流程。同时提供超高放大倍率，使  AFM 探针清晰可见，从而实现更精准的定位。

同时支持大范围扫描与单分子级分辨率的 AFM

得益于100×100×15 微米量程的扫描器，SignatureSPM 具备超高的稳定性及扫描速度，可以进行卓越的 AFM测量。基于快速响应时间、低噪声、低漂移及可溯源的计量设计所获得稳定性，设备可在实现大面积扫描的同时，获得分子级的分辨率。

快速且可重复的悬臂梁调节

无论操作者是谁，都能做到无缝探针更换并使设备保持无与伦比的重现性。更换悬臂梁后，样品表面之前被测量的位置，可轻松被定位并扫描（重复精度达微米级），而无需额外的针尖搜索步骤。

自动化的原子力显微镜校准调节

激光器、悬臂梁与光电二极管与光谱仪无缝集成，并可以进行全自动的准直，校准调节完全无需人工干预。

原子力显微镜激光与光谱测量互不干扰

原子力显微镜的红外激光二极管不会干扰可见拉曼/光致发光的测量，完全消除了可见光对生物、半导体和光伏样品等对可见光敏感的样品测量过程中的光学干扰。