LabRAM Odyssey

Spectromètre Confocal Raman à Haute Résolution

Le spectromètre Raman LabRAM Odyssey offre des capacités d'imagerie confocale avancées en 2D et 3D, idéales pour les mesures micro et macro.

Ce véritable microscope confocal Raman réalise des analyses détaillées avec rapidité et confiance. Sa facilité d’utilisation est améliorée par de nouvelles fonctionnalités, telles que l'étalonnage VRM (Video Raman Matching) ou la reconnaissance automatique de l'objectif.
En option, il peut être adapté aux applications des semi-conducteurs. En effet, le LabRAM Odyssey peut être doté d'une platine de 300 mm et d et d'une tourelle d'objectif automatisée, ce qui facilite la qualification des processus.

Ses applications couvrent divers domaines, des sciences de la vie pour l'élucidation de la structure biomoléculaire aux semi-conducteurs pour l'analyse des défauts sur des wafers de 300 mm de diamètre. Le LabRAM Odyssey est un outil indispensable pour les chercheurs et les ingénieurs à la recherche de connaissances approfondies sur les matériaux avancés et leurs applications.

Passez de la microscopie à la nanoscopie en toute simplicité grâce au couplage AFM.

Segment: Scientific

Division: Raman Spectroscopy

Fabricant: HORIBA France SAS

Haute résolution spatiale et spectrale
La conception optimisée du spectromètre à simple étage à haute sensibilité de 800 mm de focale d'HORIBA Scientific permet de développer les instruments les plus sensibles du marché, avec une résolution spatiale optimale et une diffraction limitée. Sur le plan spectral, le spectromètre haute résolution facilite la caractérisation d'informations subtiles d'un échantillon, telles que la cristallinité, le polymorphisme, la contrainte et d'autres analyses de bandes.

De l'UV profond au proche Infrarouge sans concessions
La compatibilité avec une large gamme de longueurs d'onde laser et la possibilité de monter jusqu'à trois détecteurs permettent d'étendre la gamme de longueurs d'onde de mesure de 200 nm à 2200 nm. La configuration UV optimisée offre une solution idéale pour l'analyse Raman UV avec des longueurs d'onde inférieures à 400 nm. Ces performances ouvrent la voie à d'autres techniques spectroscopiques telles que la spectroscopie Raman UV, la spectroscopie Raman de résonance et la photoluminescence, pour une caractérisation détaillée d'échantillons de matériaux très variés.

Facilité d'utilisation et ergonomie
La conception intelligente et entièrement automatisée du LabRAM Odyssey garantit des performances ultimes associées à une grande facilité d'utilisation. Le vaste choix d'applications dédiées à LabSpec 6, disponibles dans le LabStore, permet de configurer et de faire évoluer le logiciel en fonction de vos besoins.

Le LabRAM Odyssey offre un haut niveau d'automatisation, tel que le choix du laser, une tourelle à objectifs automatisée, ou encore la calibration spatiale automatique avec sa fonction VRM brevetée.

Imagerie confocale ultrarapide
Le LabRAM Odyssey intègre les technologies uniques d'imagerie Raman rapide SWIFT™ et DuoScan™.
DuoScan™ est un mode d'imagerie confocale, avec des miroirs de balayage haute précision ultrarapides qui créent des macro-points laser de taille variable et permettent de réaliser une cartographie par macro-pas, de l'UV profond au proche IR.
SWIFT™ assure une cartographie Raman confocale avec des temps d'intégration CCD pouvant descendre à 1 ms par point, voire moins.

La combinaison unique d'optiques, de détecteurs et de logiciels innovants permet d'obtenir une véritable imagerie confocale Raman avec une vitesse d'acquisition des données inégalée.

Compatible Raman-AFM et TERS
Grâce à sa grande flexibilité, le LabRAM Odyssey est la plateforme idéale pour combiner l'analyse Raman-AFM et la recherche par spectroscopie nano-Raman TERS (diffusion Raman exaltée par effet de pointe).

Le LabRAM Odyssey peut également intégrer notre fonction brevetée nanoGPS™ navYX pour réaliser une caractérisation collaborative complète avec diverses autres modalités de microscopie telles que SEM, FTIR, et autres.

Module à ultra-basse fréquence (ULF)
Le LabRAM Odyssey allie simplicité d'accès aux très basses fréquences, jusqu'à 5 cm^-1, avec un spectromètre haut rendement à plateau unique, grâce au module ULF. La nouvelle génération de filtres coupe-bande et passe-bande améliore la caractérisation de l'échantillon dans une région spectrale rarement accessible avec d'autres spectromètres de base.

Localisation et identification chimique automatisée des particules
ParticleFinder est un outil convivial de localisation, de caractérisation et d'analyse Raman automatisées des particules. Les fonctions Raman avancées du LabRAM Odyssey permettent de localiser et de caractériser rapidement des centaines, voire des milliers de particules.

Profitez des meilleures conditions pour l'analyse de votre échantillon
La flexibilité d'échantillonnage du LabRAM Odyssey permet d'optimiser pleinement vos recherches. Il est équipé de série d'un microscope en espace ouvert. Le dégagement sous l'objectif vous permet ainsi d'adapter de nombreux accessoires, comme des cryostats de grande dimension ou des plateaux à large débattement. Dans le domaine de la recherche en sciences de la vie, le microscope inversé offre un échantillonnage idéal pour les cellules et les tissus.

Piégeage laser CaptuR
Cette solution unique de piégeage laser intégrée est idéale pour le contrôle des particules fines lors des analyses microscopiques.

Spécifications Générales
Gamme de longueur d'onde	UV profond jusqu'à VIS-NIR	En standard 200 nm - 2200 nm (achromatique, pas de changement d'optique nécessaire)
Spectrometer Imageur	Configuration Czerny-Turner	Longueur focale : 800 mm
Lasers	Jusqu'à 6 motorisés	Sélectionnables par l'utilisateur: 266 nm, 325 nm, 355 nm, 405 nm, 458 nm, 473 nm, 532 nm, 633 nm, 660 nm, 785 nm, 1064 nm D'autres longueurs d'onde sont possibles sur demande.
Filtres Laser	Illimité	Gamme de filtres variée (Dielectric, Notch, ULF…) pour répondre à toutes les applications
Nombre de réseaux	Illimité
Résolution spectrale FWHM	À la longueur d'onde d'excitation de 244 nm : ≤ 1.5 cm^-1 avec 3600 t/mm À la longueur d'onde d'excitation de 532 nm : ≤ 0.6 cm^-1 avec 1800 t/mm et ≤ 0.3 cm^-1 avec 3000 t/mm À la longueur d'onde d'excitation de 633 nm : ≤ 0.4 cm^-1 avec 1800 t/mm et ≤ 0.2 cm^-1 avec 2400 t/mm À la longueur d'onde d'excitation de 785 nm : ≤ 0.2 cm^-1 avec 1800 t/mm
Ultra-basse fréquence (ULF)	< 10 cm^-1, mesure sur le soufre	Basé sur des filtres à réseau de Bragg (VBG). Disponible pour les excitations laser à 473, 532, 633 et 785 nm.
Fonctions de calibration automatisées internes	Méthodes intégrées automatiques AutoCAL et ICS, VRM & VRM OA de série	Calibration automatique de l'intensité et de la gamme spectrale. VRM génère une haute précision spatiale pour les cartographies Raman et microscopie, VRM OA permet de modifier le facteur de grossissement sans perte de précision spatiale.
Imagerie Raman rapide	Fonctions SWIFT™ brevetées	Compatible avec tous les objectifs et lasers. 3 modes disponibles de série : imagerie SWIFT™, imagerie répétitive et haute résolution spectrale XR. L'imagerie à haute vitesse SWIFT™ XS nécessite un détecteur EMCCD disponible en option.
Couplage AFM / SEM	Oui	Compatible avec le module NanoRaman et l'accessoire breveté nanoGPS™ navYX pour les mesures corrélatives.
Dimensions l x H x P (mm)	1300 x 1194 x 473	La profondeur dépend du choix de la table XY et du banc laser (en option). Cette valeur correspond à une table de 100 x 100 mm et au banc laser de Classe IIIb - sans CDRH (optionnel).
Poids	~100 kg	Dépend de la configuration.
Sécurité	Classe IIIb	En option, laser avec CDRH, sécurité de classe 1.

Multimodal spectroscopy techniques for nanostructured materials characterization

In this article, we present the combination of Raman spectroscopy, Photoluminescence and SEM-CL techniques, where the instruments weren’t physically connected. Smart nanostructured materials require a comprehensive understanding of their morphology, elemental and chemical composition. nanoGPS Suite solution allows a colocalized combination of a variety of microscopy techniques, providing a full characterization of nanostructured materials and a precise superimposition of the results obtained.

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