H-CLUE

Cathodoluminescence H CLUE MM Picture Fr

多功能高光谱阴极荧光

H-CLUE直接耦合方案为阴极荧光成像和光谱分析提供了优异性能

H-CLUE内部采用了HORIBA Scientific久经考验的光学元件,从FUV到NIR波段都具有超越其它品牌的灵敏度

模块化和多功能性突出体现在OptiLink模块,它位于可伸缩收集镜接口和光谱仪之间。为其它类型的CL成像提供了可能性,如偏振CL、RGB CL、角分辨CL(AR-CL)和时间分辨CL(TR-CL)。

Labspec 6功能庞大的软件组控制,H-CLUE具有独特的先进功能,可用于快速成像和光谱分析(KIA光谱数据库、SWIFT、宇宙线消除、峰值拟合、粒子探测器、拼图、多元分析、立体3D显示…)

事业部: 科学仪器
制造商: HORIBA France SAS

光路通过自由空间耦合,已提供宽的CL光谱范围和高性能

  • 电脑全自动控制

  • RPM位置可微调

  • 无色差

  • 定制化配置:角分辨CL、时间分辨CL、偏振和滤光片

  • 可实现DUV到NIR的成像和光谱采集,可配置5个探测器

  • 长焦长光谱仪

光谱范围

UV-VIS-NIR

自由光路消色差耦合

金刚石切削收集镜

抛物镜
短 & 长工作距离

200 mm 伸缩臂

真空下马达微调

CL 成像探测器

标准: 全色光和单色光CL,室温 PMT
可选:制冷 PMT, IGA 单道, 光子计数器 PMT, 时间分辨 PMT, RGB 滤光片

CL 光谱仪类型

iHR 320, iHR 550 (320 to 550 mm 焦长),多达 3 光栅塔, 2入口/2出口

升级可行性

可在PL, MicOS系统上升级

电子束控制

CL-LINK 控制多个采集过程 (模拟, 脉冲, SE), 线扫描成像,
点测试,同步光谱测试, 电镜由外部控制扫描

软件

 LabSpec 6™控制光谱仪和成像

远程控制器

可选

Clue 附件

偏振, ND 滤光片, 摄像机, EMCCD 等

SEM 附件

液氦/ 液氮制冷台, EBIC 探测器和其它可兼容 CLUE 系列的附件

阴极荧光光谱测定定位合成CVD金刚石薄膜中的荧光缺陷
阴极荧光光谱测定定位合成CVD金刚石薄膜中的荧光缺陷
利用高光谱阴极荧光光谱和成像技术对合成的CVD金刚石材料进行了表征,为新兴的固态量子力学系统提供了检测和准确定位潜在的NV荧光点缺陷的方法。在这项工作中,我们以金刚石为衬底蚀刻的微柱图案上进行CVD外延生长。阴极荧光(CL)分析显示NV色心成功地定位在柱的边缘。
用CL成像评价白光LED荧光粉
用CL成像评价白光LED荧光粉
荧光粉在获得白光方面起着关键作用,特别是对于蓝色LED+荧光粉和近紫外LED+荧光粉。为了提高高亮度白光LED的荧光性能,必须使整个荧光粉颗粒均匀发荧光。当使用CL测量用作白色LED的荧光粉时,可以观察到荧光粉颗粒中不发荧光的区域。CL系统用于评估非荧光区域,以提高荧光效率和特性。
用CL方法评估GaN外延片的缺陷
用CL方法评估GaN外延片的缺陷
在蓝宝石衬底上生长的GaN晶体极易出现线位错。据说这是由蓝宝石和GaN的大晶格错配引起的。在SEM图像中,晶体看上去是均一的。但在测量与带边沿发射相对应的波长(362nm)处的CL光强成像时,可以观察到暗斑,如线位错。

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