Search
English
Corporate
工業
半導體
清洗
Deposition
質量流量控制器和模組
紅外線測溫儀
液體質量流量計
液體自動補充系統
質量流量控制器
質量流量模組
光譜橢偏儀
製程監控器和控制器
Fluid Controller and Module
光學發射光譜
液體蒸發器
光刻
顆粒檢測
光罩清潔
光罩儲存
材料分析
蝕刻
Material Characterization
陰極發光
深層分析
奈米拉曼
拉曼光譜儀
光致發光
UV-Vis Fluorescence
氣體分析
化學研磨 (CMP)
廠務
超純水
廢氣排放
潔淨室解決方案
Recycle
廢水處理
平面顯示器製程
光電製程
多晶矽
薄膜矽
合成CIGS
有機染料
陶瓷電容器
真空鍍膜
鑽石 (MPCVD)
可用於鑽石 MPCVD 的 MFC
光纖
發泡系統
汽化系統
加熱系統
其他產業
氣體分析儀
Bio Process
電導率儀
質量流量控制器
排氣壓力控制器
溶氧儀
酸鹼度計
環境
食品業
冷凍乾燥
燃料電池
鍋爐
氣體測試
超導體
奈米技術
產品
質量流量控制器和模組
質量流量控制器
液體汽化系統
汽化原理
壓力控制
真空和氣體監測
混合應用系統
等離子監視器和控制器
非接觸式溫度測量
顆粒檢測
化學監測
粒徑分析
表面分析
薄膜分析
缺陷/雜質監測
排放分析
液體到氣體
活動
Semicon West 2023
聯絡我們
聯絡我們
聯絡 HORIBA Japan
America
Europe/Middle East/Africa
Asia Pacific
Japan
網站導引
Country / Region
Change
聯絡我們
找到我們
工業
»
半導體
»
光刻
PR-PD Series
下載
close
PDF
1.76 MB
PARTICLE DETECTION SYSTEM
PR-PD Series
Corporate
