PDF 6.47 MB 有机层的深度表征:拉曼光谱、微区X射线荧光(XRF)与辉光放电光谱(GD OES)联用技术 利用辉光放电发射光谱(GD OES)可对溅射凹坑进行剥蚀剖析,再结合拉曼光谱与微区 X 射线荧光(XRF)对底层表面进行表征,证实复杂有机 / 无机涂层在分析过程中表面未发生化学改变。