Ultima Expert

高分辨率，高灵敏度和高稳定性的电感耦合等离子体发射光谱仪

HORIBA科学仪器部拥有超过35年的高性能ICP-OES开发及生产历史。新款Ultima Expert拥有卓越的性能，结合各种辅助工具，可以简化及优化分析方法。

Ultima Expert整合了Jobin Yvon高性能光学系统的优势，在分析各类样品和基体时均具有不凡的表现。

Ultima Expert由强大的分析软件驱动，具有大量的分析功能，可以进行一些定制化的控制和分析。

高稳健性使Ultima Expert可以轻松地应用于：矿物、化学制造、高盐、润滑油（磨损金属）、石化、冶金制造及贵金属提炼等分析。

Ultima Expert能够满足您的所有应用需求！

事业部: 科学仪器

产品分类: 电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）

制造商: HORIBA France SAS

高分辨率、高灵敏度、高稳定性ICP-OES

Ultima Expert 是目前市场上性能优良的ICP-OES，除了可用于常规样品分析，还特别适用于高难样品的分析
采用了高刻线全息光栅、1m焦距的高质量光学设计、特色的全等离子观测，可提供高分辨率。即便面对一些富有挑战性的样品，依然具有高灵敏度及高稳定性
采用侧向观测、全等离子观测的方式，可提供低检测下限
采用特色的护套气装置，对于高固含量样品具有高稳定性，能够直接分析浓度30%样品
在120~800nm范围内提供恒定分辨率，加配远紫外装置，能够提高卤素元素的灵敏度
高光学分辨率可降低光谱干扰，在120~320nm内，分辨率< 5pm
对于一些谱线比较复杂的应用，例如稀土、地质及贵重金属样品，可选择双光栅配件，在120~450nm内，分辨率< 6pm
采用特有的高稳定装置，即使是一些特殊应用，也能拥有好的稳定性
获得专利的HDD®检测，在一次分析中提供亚ppb到常量的分析
使用Image，动态范围高达10个数量级
选配的0.5m或1m多道，可进行同时式分析

Image 导航软件

Image 导航软件由于能够采集全谱，所以可进行半定量分析
可在全谱范围内呈现多条谱线
通过多条谱线叠加查看，进行比较分析
自动进行定性、半定量分析

Master 软件，优化谱线筛选

Master软件可以优化方法建立，在提供每个元素的浓度范围以及基体的情况下，可自动筛选出合适的谱线。S³-base数据库由采集到的ICP实际光谱所建立，而Master集合S³-base，内含了50000条以上谱线。
- 自动谱线筛选
- 合成谱线呈现
- 按照灵敏度、动态范围及干扰情况调整谱线筛选

S³-base viewer

S³-base viewer 显示整个S³-base 数据库，帮助识别未知样品的发射线
- 提供完整的S³-base数据库
- 显示分析物的波长及其相对强度和检测限
- 显示选定波长附近的潜在发射线列表，包括等离子体固有发射线，以及它们的相对强度和检测限。
- 图形显示被分析物的发射线和潜在的发射线，便于识别

发生器	固态，水冷式发生器，频率为40.68MHz
矩管	可拆卸式，3mm内径氧化铝内管，玻璃中管以及外管
样品导入系统	玻璃同心雾化器，玻璃旋流雾化室，3通道蠕动泵，护套气装置
光学系统	恒温系统，1m焦距，2400刻线/mm光栅，使用第一级次和第二级次光；在120~320nm，分辨率< 5pm；在320~800nm，分辨率<11pm
选配件双光栅系统	采用4320刻线/mm和2400刻线/mm双面光栅，使用一级光。在120~450nm，分辨率<6pm；在450~800nm，分辨率<11pm
选配件	0.5m或1m的多道
检测器	专利的HDD系统

使用Ultima Expert可以轻松地进行盐水分析。3mm大内径内管及侧向观测、全等离子观测可以降低基质效应并提高灵敏度，因此系统能够在没有任何稀释的情况下进行分析，获得较低的检测限。护套气装置使系统在常规分析中具有非常好的短期和长期稳定性，无需任何内标、重新校准或漂移校正程序。良好的长期稳定性允许使用优化的等离子体参数和积分时间来提高性能。

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