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使用蔗糖和所有酮糖探究 nanoPartica SZ-100V2 的粒径测量下限

Particle Characterization

对于大多数粒径分布分析仪而言,测量 10 纳米以下的纳米颗粒通常较为棘手,因为如此小的颗粒产生的散射信号往往非常微弱。动态光散射通常是唯一能够测量此类微小颗粒的粒径分析技术,但该技术的绝对测量下限往往未被深入探究。

本应用说明中,使用 nanoPartica SZ-100V2 对蔗糖溶液和所有酮糖溶液进行测量,通过纳米分析模式探究该仪器的粒径测量下限。

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