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显微XRF用于博物馆和考古样品的无损分析

Micro-XRF for non destructive analysis of museum and archaeological objects

Micro-XRF for non destructive analysis of museum and archaeological objects

XGT-9000 非常适合分析考古标本和博物馆物品,仪器的主要特点包括:

• 非破坏性采样- 可以在大气压下分析精致和易碎的工件,而没有损坏的风险。 单点、自动多点和 XY面扫分析确保了采样的多功能性。

• 超窄 X 射线束 - 即使是小而复杂的特征,小至 10 μm 的尺寸也可以进行检测。 为了灵活性可以在同一台仪器上同时容纳微光束和毫米光束,光束之间的切换快速简单,并且不需要操作员对齐。

• 大面积分析 - 可以测试最大 20 cm x 20 cm 的区域,因此即使是大物体也可以轻松分析。

• 含量信息广 - 元素组成的快速分析,从Na到U。

• 透射X 射线成像- 即使是在密封/包裹的物品上,可以提供附加的结构信息。

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