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宽禁带氮化镓的一维半导体-纳米线是纳米器件的主要候选材料。如短波发射器光电器件和大功率/高温电子器件。在单根纳米线上测试其均匀性和组成,并将这些各向异性材料的尺寸和光学特性联系起来非常重要。
该研究中利用共聚焦显微拉曼光谱结合高分辨压电平台对单根GaN纳米线进行了高分辨拉曼测试,实现了准确和可重复定位。
综上所述,采用高分辨共聚焦显微拉曼光谱仪对单根GaN纳米线进行了完整的偏正拉曼研究。使用的共聚焦拉曼光谱仪结合压电平台具有高的空间分辨率,获得空间分辨率优于200nm的光学特性,保持了共聚焦显微镜下偏振的全部优势。
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