Applications

单根GaN纳米线的拉曼成像:推动共聚焦显微镜的空间分辨率

Mapping of the nanowire performed by recording step-spectra at every 200 nm with an integration time of 1s.

Mapping of the nanowire was performed by recording step-spectra at every 200 nm with an integration time of 1s. By intensity integration of the [509-552 cm-1] spectral domain around the A1(TO) mode (530 cm-1), the variations of the Raman signal over the full nanowire are investigated.

宽禁带氮化镓的一维半导体-纳米线是纳米器件的主要候选材料。如短波发射器光电器件和大功率/高温电子器件。在单根纳米线上测试其均匀性和组成,并将这些各向异性材料的尺寸和光学特性联系起来非常重要。

该研究中利用共聚焦显微拉曼光谱结合高分辨压电平台对单根GaN纳米线进行了高分辨拉曼测试,实现了准确和可重复定位。

综上所述,采用高分辨共聚焦显微拉曼光谱仪对单根GaN纳米线进行了完整的偏正拉曼研究。使用的共聚焦拉曼光谱仪结合压电平台具有高的空间分辨率,获得空间分辨率优于200nm的光学特性,保持了共聚焦显微镜下偏振的全部优势。

应用文档下载:

相关产品

LabRAM Odyssey
LabRAM Odyssey

高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪

UVISEL PLUS椭圆偏振光谱仪
UVISEL PLUS椭圆偏振光谱仪

研究级经典型椭偏仪

留言咨询

如您有任何疑问,请在此留下详细需求信息,我们将竭诚为您服务。

* 这些字段为必填项。

Corporate