Si Stress

Si Stress - LabSpec 6 App For Automated Silicon Stress Analysis - Logo

自动硅应力分析

用于工业、研究和质量测试应用的微晶硅自动化硅应力分析

拉曼光谱是研究半导体基本特性的最重要工具之一,它在表征光伏电池和微电子装置的特性方面特别有效。

机械应力和应变可以通过分析特征谱带的谱峰移动来检测,从而使拉伸和压缩应力得以量化。

Si Stress App 嵌入了 LabSpec6软件 之中,可以用于微晶硅的自动应力分析,并给出优化的分析报告


      * 仅适用于欧洲、中东和非洲国家

事业部: 科学仪器
产品分类: 拉曼光谱仪
制造商: HORIBA France SAS

•    自动Si应力识别和鉴定:拉伸和压缩
•    集成参考和自动数据校正,使用 "Sample-Ref "进行轻微的应力变化测量
•    单点数据到大范围成像
•    优化的分析报告模板

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