PD10

光掩模颗粒检测系统

面向未来需求的下一代检测平台

PD10 是 HORIBA 颗粒检测产品线的最新一代。基于创新的模块化平台设计,PD10 是满足当前和未来光刻及掩模生产过程中掩模与防护膜(pellicle)检测需求的合适工具。晶圆厂自动化结合 HORIBA 的核心技术组件,使用户能够扩展 PD10 系统,不仅进行颗粒探测与量测,还可通过拉曼分析实现颗粒表征、测量防护膜的膜厚与均匀性,以及提供防护膜健康的监测工具。

事业部: 半导体
产品分类: 计量学
制造商: HORIBA, Ltd.

请选择一个本产品可售卖的国家和区域:
中国,Germany,Ireland,Israel,Italy,Korea (South),Malaysia,Singapore,中国台湾,United Kingdom,United States
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  • 通过组合多种光学系统实现不同检测灵敏度
  • OHT、EFEM、多端口、多槽位适配
  • 能够重新分析检测数据以加速检测配方优化
  • 可与其他 HORIBA 传感器产品(如拉曼光谱和椭偏仪)集成
  • 减少误报功能
  • 具有更好交互性的创新软件
Model PD10
Dimensions(W) x (D) x (H)1,000 x 1,850 x 1,600 mm
WeightApprox. 950kg
Inspection Particle SizePattern0.5 μm / 0.35 μm (0.1 μm : Blank Mask)*¹
Glass5.0 μm (0.5 μm - : High Sensitivity Option)*¹
Pellicle10.0 μm (0.5 μm - : High Sensitivity Option)*¹
Light Source633 nm He-Ne laser or 488 nm Solid-state laser
Reticle Size5 inch - 9 inch
Case openersSMIF POD, Compatible with various cases
ThroughputApprox. 12 min (From inspection start to test result display for 2 surface (6 inch) inspection)
Panel Surface TreatmentStainless Steel
Installation EnvironmentCleanlinessClass6 ISO standards or better 
Temperature23 +/- 1°C
UtilitiesPowerAC200-240 V, 2 kVA 50/60Hz, Single Phase
Vacuum SourcePressure -80 kPA or less
Compressed Air0.6 MPa - 0.7 MPa

New Function / Option

Reticle Edge HandlingYes
Auto Capture / Auto SizingYes
Data Browser FunctionYes
False Detection Reduction FunctionYes

*PSL equivalent , HORIBA recommends customer sample test for inspection sensitivity validation.

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