Semiconductor Page Heading

计量学

HORIBA 的颗粒检测和去除系统对于提高半导体光刻工艺的产能至关重要。

 

颗粒检测系统

PR-PD2HR

相关产品

详情 LEM Series

基于实时激光干涉测量的摄像头终点监测

详情 GD-Profiler 2™

用辉光放电光谱仪去发现一个崭新的信息世界

详情 PR-PD2

光罩/掩膜颗粒检测系统

详情 PR-PD2BLI

空白掩膜颗粒检测系统

详情 PR-PD2HR

光罩/掩膜颗粒检测系统

详情 PR-PD3

紧凑型光罩/掩膜颗粒检测系统

详情 PR-PD3 BLI

空白掩膜表面颗粒

详情 PR-PD5

低成本光罩/掩膜颗粒检测系统

详情 RP-1

光罩/掩膜颗粒去除设备

留言咨询

如您有任何疑问,请在此留下详细需求信息,我们将竭诚为您服务。