为减少腔室间的差异并优化蚀刻设备的良率,HORIBA 提供多种流体控制系统和智能传感器,用于终点检测和腔室状态监测。这些系统结构紧凑、坚固耐用,适用于研发与生产环节。
干蚀刻是指通过将材料暴露于离子轰击(通常是活性气体的等离子体,如氟碳化合物、氧、氯、三氯化硼;有时加入氮气、氩气、氦气和其他气体),将部分物质从暴露的表面移走。一种常见的干蚀刻是反应离子蚀刻。与湿蚀刻中使用的许多湿化学腐蚀剂(但不是所有的,参见各向同性蚀刻)不同,干蚀刻过程通常是定向或各向异性蚀刻。
压差式质量流量控制器
紧凑型质量流量控制器
光发射光谱蚀刻终点监测仪
基于光发射光谱和 MWL 干涉测量法的工艺终点/反应腔健康监测
热式气体分流器
晶圆背面冷却系统
高精度红外温度计[固定式]
基于实时激光干涉测量的摄像头终点监测
紧凑型工艺气体监测仪
新型压力补偿质量流量控制器
多量程/多气体数字质量流量控制器
压力补偿质量流量控制器
直接液体注入系统
电容压力计
数字式液体质量流量计
HORIBA在分析仪器领域的专业知识,是其为半导体、制药和化工行业提供一系列有效的工业监控工具的基础。
凭借紧凑设计和增强的图像质量,使用直接俯视晶圆的方法,LEM激光干涉仪可以在各种腔室上安装,用于定点蚀刻速率监测和终点检测。LEM提供样品表面的实时数字CCD图像,30m 激光束定位简单又准确。LEM 以干涉测量技术为基础,为各种干法刻蚀应用的终点检测提供定点刻蚀/生长速率监控。
压差式质量流量控制器
紧凑型质量流量控制器
光发射光谱蚀刻终点监测仪
基于光发射光谱和 MWL 干涉测量法的工艺终点/反应腔健康监测
热式气体分流器
晶圆背面冷却系统
高精度红外温度计[固定式]
基于实时激光干涉测量的摄像头终点监测
紧凑型工艺气体监测仪
新型压力补偿质量流量控制器
多量程/多气体数字质量流量控制器
压力补偿质量流量控制器
直接液体注入系统
电容压力计
数字式液体质量流量计
如您有任何疑问,请在此留下详细需求信息,我们将竭诚为您服务。