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蚀刻

为减少腔室间的差异并优化蚀刻设备的良率,HORIBA 提供多种流体控制系统和智能传感器,用于终点检测和腔室状态监测。这些系统结构紧凑、坚固耐用,适用于研发与生产环节。

蚀刻在微细制造中用于在制造过程中化学去除晶圆片表面的层。蚀刻是一个非常重要的工艺模块,每个晶圆在完成之前都要经过许多蚀刻步骤。

在许多蚀刻步骤中,晶圆片的一部分被一种抗蚀刻的“掩蔽”材料保护起来不受蚀刻剂的影响。在某些情况下,掩蔽材料是用光刻法制成的光刻胶。其他情况需要更耐用的掩膜,如氮化硅。

干蚀刻是指通过将材料暴露于离子轰击(通常是活性气体的等离子体,如氟碳化合物、氧、氯、三氯化硼;有时加入氮气、氩气、氦气和其他气体),将部分物质从暴露的表面移走。一种常见的干蚀刻是反应离子蚀刻。与湿蚀刻中使用的许多湿化学腐蚀剂(但不是所有的,参见各向同性蚀刻)不同,干蚀刻过程通常是定向或各向异性蚀刻。

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HORIBA在分析仪器领域的专业知识,是其为半导体、制药和化工行业提供一系列有效的工业监控工具的基础。

凭借紧凑设计和增强的图像质量,使用直接俯视晶圆的方法,LEM激光干涉仪可以在各种腔室上安装,用于定点蚀刻速率监测和终点检测。LEM提供样品表面的实时数字CCD图像,30m 激光束定位简单又准确。LEM 以干涉测量技术为基础,为各种干法刻蚀应用的终点检测提供定点刻蚀/生长速率监控。

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