特集論文:圧力式マスフローコントロールモジュールCRITERION D507シリーズ

長井 健太郎 | |   47

近年,IoTによる半導体デバイスのアプリケーションの増加に伴い,最先端の半導体工場に於いては装置のダウンタイムを最小にすることが重要課題である。このため,半導体工場の現場では装置やコンポーネントの不具合の事前検知を目的に,半導体プロセスの管理項目の増加や管理規格の厳格化が行われている。こういった状況に対して,マスフローコントロールモジュールは,要求される管理基準を満足するため,プロセスガスの流量精度及び個体間器差の向上,圧力変動の影響を受けにくい流量制御に加え,高速通信,不具合発生前の早期異常検知といった機能が求められている。D507シリーズは近年の半導体工場におけるコンポーネントの
厳しい管理に対応すべくD500シリーズに追加ラインナップされた製品である。