pH 計測の研究が認められ，日本分析化学会先端分析技術賞　日本分析機器工業会（JAIMA）機器開発賞を受賞！

2008分析展期間中に開催された第3回東京コンファレンスにおいて，2008年度先端分析技術賞授賞式が行われ，堀場製作所　開発センター　基礎技術部　技術担当部長の野村聡がHORIBAのコア技術であるpH計測における革新的な研究成果を認められ，“半導体pHセンサを用いた固体表面局所分析法の開発”で，日本分析化学会先端分析技術賞日本分析機器工業会（JAIMA）機器開発賞を受賞した。