レーザー回折/散乱式粒子径分布測定装置 LA-920による微量試料の測定

小倉淑子* | |   20

*株式会社堀場製作所

HORIBAは12年前にレーザー回折/散乱式粒子径分布測定装置LA-500を製品化して以来、LAシリーズとしてさまざまな機種を市場に出してきた。最近ではお客様から貴重な微量試料を測かりたいとの要望が急増している。本稿では、粒径分布の異なる標準試料を各種のサンプリング法で測定し各手法の微量測定の特徴を比較評価した。また、バッチセルを使い簡易なサンプリング手法による微量試料の測定方法を紹介する。