縞状鉄鋼層(BIF)のX線分析顕微鏡による測定 -地質学的意義と測定意義-

*1神奈川県立生命の星・地球博物館、*2株式会社堀場製作所

堀場製作所が開発したX線分析顕微鏡(XGT-2000)を用いて縞状鉄鉱層(BIF)の分析を行った。本稿ではBIFの実際の分析手順とその結果の詳細を示した。またBIFの地質学的特徴をまとめ、本装置を用いて行った分析結果との比較検討を行った。本装置の地球科学、地質学、岩石学への適用の可能を検討する。