高エネルギーX線領域におけるマイクロビームの開発と蛍光X線分析への応用

寺田靖子* | |   33

*財団法人高輝度光科学研究センター

SPring-8で得られる100 keV以上の高エネルギーX線を用いて、重金属のK線を直接検出する蛍光X線分析を行った。ppmレベルの希土類元素、タングステンなどの重金属元素が検出可能であることがわかり、各種分野へ本法を適用したところ、ガラス片、陶磁器片などに含まれる重金属を指標とした異同識別として本法が非常に有用であることが明らかとなった。また、未踏領域であった高エネルギーX線領域でのマイクロビームを目指して集光光学素子を設計・開発し、全反射ミラーにより30-100 keVの領域で1 μm程度のマイクロビームが得られることを実証した。