X線を用いた先端科学計測の現状と将来

谷口一雄* | |   33

*大阪電気通信大学大学院

X線は物を透視することができる電磁波として脚光を浴びてきたが、同時に物理現象の解明にも大いに貢献してきた。また分析分野では早くから非破壊同時分析法として注目された。X線を用いた科学計測は、X線の発生・分光・検出の3つの要素技術に支えられてきたが、近年この要素技術が一段と進んだ。進化する要素技術とこれらの組み合わせによって得られる先端科学計測の現状と将来について言及する。