粒子計測・分析技術の最前線と標準化の動向

藤本 俊幸 | |   技術論文

*産業技術総合研究所
社会実装本部
チーフ標準化オフィサー(CSO)
博士(理学)

微粒子の物理・化学特性の中で基盤的かつ極めて重要な特性である粒子サイズに関する計測・分析技術の最前線を,先導的な技術基準が導入される欧州の規制への対応を中心に,標準化における最近の話題を含めて纏めた。気中微粒子計測では規制に直結する検出器の校正について,また液中分散微粒子計測ではナノ材料に関するEC定義の基礎となっている個数基準のサイズ分布を,各種測定法を用いて国際的に同等な結果を得るための試みを含めて紹介した。