Advanced Semi Materials / CMP Slurry Evaluation

Si、化合物半導体、二次元材料などの半導体材料分析ソリューション

レーザー回折・動的画像式 粒子径・形状解析装置 Partica

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ハイパースペクトルカメラ

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分光エリプソメーター UVISEL Plus

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自動薄膜計測装置 Auto SE

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ラマンイメージング装置 LabRAM Soleil

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顕微ラマン分光測定装置 LabRAM Odyssey

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ラマン顕微鏡 XploRA PLUS

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原子間力顕微鏡（AFM）-ラマン分光統合装置 AFM Raman

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電子顕微鏡用カソードルミネッセンスソリューション CLUE Series

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PL寿命測定装置 DeltaFlex

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遠心式ナノ粒子解析装置 Partica CENTRIFUGE

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ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2

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レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2 アクセサリ・アプリケーション

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レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2

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マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置 GD-Profiler 2

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ビデオレートFLIMカメラ FLIMera

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微小部X線分析装置 XGT-9000

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ナビ (アプリケーション集）

SCIENTIFIC PRODUCT NAVI

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SEMICONDUCTOR Navi

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Raman Navi

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総合カタログ

Answer to SEMICONDUCTOR Industry

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Answer to SEMICONDUCTOR Industry（English）

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・Metrology / Inspection　・Facility / Sub-Fab　・Fluid Control
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