OPM Series

光学特性計測システム

OPM Seriesは、複数サンプルの自動交換と調整可能な入射角により、紫外光領域~近赤外光および可視光領域における分光透過率・反射率を測定し、迅速な検査を実現します。
従来の波長走査方式に対し、カメラフィルター検査用高速光学測定システム OPM Seriesは、アレイ CCDによる検出を採用しており、高速かつ全波長検査を実現しています。

OPM-300T
紫外光から近赤外光までの透過率測定

OPM-300T-IRBF
バンドパスフィルターによる透過率測定
 - 狭帯域、高分解能
 - オプション:高解像度測定

OPM-300R
紫外光領域から近赤外光領域までの反射率測定

事業セグメント: 半導体
製品分類: Metrology

特長:

  • マルチソケット式サンプルローディングトレイ(320×320 mm)システム
    全軸サーボモーター駆動による自動スロット/位置移動、可変入射角調整機能(フィルム/ガラス型光学フィルター用:300Tシリーズは0-45˚、300Rシリーズは5-35˚)
  • 測定ごとの自動基準値チェック機能(T%測定時は空気、Abs. R%測定時は既知の高/低サンプル)
  • R%結果グラフへのユーザー事前設定仕様の重ね合わせ表示により製品品質の判定を支援
  • サンプル領域全体の均一性を確認する高速X-Yマッピング機能
  • OPM Series専用「対向入射角補正」機能:基板表面の反りによる入射角誤差を補正し、カットオン/オフ波長判定誤差を防止
  • サンプル移動時間を除く概算タクトタイム:1測定点あたり約2秒(OPM-300T)、約1秒(OPM-300T-IRBF/OPM-300R)

 

様々な入射角における透過率

 

測定ソフトウェア
 

カスタマイズ可能なサンプルトレイ

ModelOPM-300TOPM-300T-IRBFOPM-300R
H/W GeneralMulti sample loading system
4 axis motorized stage (XY,Tray,R)5 axis motorized stage
(XY,Tray,R1,R2)
Automatically adjustable incidenct angle
(Variable AOI between, 300T, 300T-IRBF : 0-45°, 300R : 5-35°)
Measurable Range350-1300 nm800-1100 nm380-800 nm
CCD Pixel Dispersion1st : Approx. 0.43 nm
2nd(1100nm~) : Approx. 2.34nm
Approx. 0.2 nmApprox. 0.21 nm
Light Source UV lamp, Tungsten halogen lampTungsten halogen lamp
Measurement ItemWavelength at T(R)n%, T(R)% at n wavelength,
T(R) Avg/Max/Min, Slope, Δwavelength of different incident angle
Repeatability /
Reproducibility
Related with λ item :
1st ≤±0.3 nm, 2nd(300T only) ≤±1 nm
Related with T% item : ≤±0.4%
Related with λ
item : 1st ≤±0.3 nm
Related with R%
item : ≤±0.25%
S/W GeneralOperator, Engineer, Maintenance mode
Mapping & Multi Point Measure function by user recipe
Measurement Capa.
( 1point/filter, 1 angle)
Approx. 216,000 pcs/month(24h x 30d)
Operating
Environment
Place : Clean Room (Class -10,000)
15-35℃
< 85% RH with no condensation
Dimension (WxDxH) 1230 x 1515 x 1142 mm1550 x 1515 x 1142 mm
WeightApprox. < 400 kgApprox. < 450 kg
Power Spec.Single phase, 220 V, 15 A

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