SEMICON Japan 2022
HORIBA展示パネル・カタログダウンロード

▶流体制御  ▶薬液濃度モニタリング  ▶フォトマスク異物検査  ▶半導体材料評価

▶チャンバー状態監視  ▶エンドポイント検出  ▶ファシリティ管理

流体制御

ガス流量制御による装置間のばらつきを削減し、歩留まりを向上させたい。

流体制御

流体制御技術

[新製品] デジタルマスフローモジュール CRITERION D700

ガス流量制御による装置間のばらつきを低減し、生産性や歩留まりの向上に貢献

[新製品] オートプレッシャレギュレータ GR-511F

チャンバー内でウェハの温度制御に用いるガスの圧力制御を高精度に行う、ウェハ裏面圧力制御システム

[新製品] 超薄型差圧式マスフローモジュール CRITERION DZ-100 Series

ガスパネルをコンパクトにする10mm幅の超コンパクトマスフローモジュール

サーマル式マスフローモジュール SEC-Z700S Series

流量精度、再現性、応答性能など必須の性能を備えたマスフローモジュール

サーマルフロースプリッタ FS-3000 Series

半導体製造プロセスにて、チャンバーに導入するプロセスガスを任意の比率に分配

薬液濃度モニタリング

薬液に接液することなく、非接触で安全にコンタミのリスクなく薬液濃度の測定を行いたい。

レガシーから先端、 さらにその未来へ

WETプロセスにおける薬液濃度計測をサポート

Total Solution for Wet Process Monitoring

半導体製造工程の現場にあった薬液濃度モニターを幅広くラインアップ

半導体製造プロセス用溶存酸素濃度モニター HD-960シリーズ

薬液等の液中における溶存酸素濃度測定に最適

光ファイバ式熱リン酸濃度モニター CS-620F

冷却不要で高濃度・高温リン酸のリアルタイム測定を実現

非接触薬液濃度モニター CS-900

薬液を非接触でモニタリング。据付、配管等施工等のコストを削減

半導体WETプロセス分析装置

独自の技術によるウェットプロセス用の薬液濃度管理に適した多彩な薬液濃度モニター

工業用比抵抗計 HE-480R(W)

高精度な温度補償性能を持ち、超純水の連続モニタリングに最適な比抵抗計

パネルマウントタイプpH計 HP-480

工業排水から、各種工業分野における製造工程の監視、品質検査まで幅広く対応

微量サンプリングpHモニター UP-100

1測定あたり500μLの極微量なサンプリング量でpHの連続測定が可能

フォトマスク異物検査

レティクル/ブランクス/ペリクルに付着した異物を迅速に測定&除去したい。

レティクル/マスク異物検査装置 PD Xpadion

リソグラフィ工程において異物を迅速に測定&レビュー。スマートファクトリー対応を実現

レティクル/マスク異物検査装置 PR-PD3 Pro

レティクル/マスク製造プロセスの検査ニーズを満たす優れた性能

パーティクルリムーバ RP-1

エアーブローと真空吸引で異物を自動除去

半導体材料評価

半導体薄膜の膜厚・膜質・応力やCMPスラリー粒子径、電子基板の異物などを評価したい。

薄膜・欠陥 分析ソリューション

Metrology [分析・計測技術]

CMPプロセス 分析ソリューション

Chemical Mechanical Planarization [分析・計測技術]

SCIENTIFIC PRODUCT NAVI

お客様の真の分析パートナーとして、最先端材料の研究開発から品質管理まで役立つ分析装置をご提案

SEMICONDUCTOR NAVI

シリコン・化合物の半導体材料分析ソリューションを数多く提案

Raman Navi

アプリケーションに応じて、グレーティングからシステムまで一貫した設計を自社で行っています

顕微レーザラマン分光測定装置 LabRAM HR Evolution

業界最高レベルの応力分解能 ※2022年7月自社調べ

ラマンイメージング装置 LabRAM Soleil

性能とユーザビリティを両立したラマン分光装置がデビュー

ラマン顕微鏡 XploRAシリーズ

コンパクトで高感度なラマン分光装置

原子間力顕微鏡-ラマン分光分析 統合装置 TERSナノイメージング

AFMとラマン分光が同時に測定可能なナノイメージング装置

マクロラマン分光装置 MacroRAM

簡単・迅速な定量分析で、生産現場での工程管理を効率化

分光エリプソメータ UVISEL Plus

超薄膜の膜厚・屈折率・消衰係数を分析、膜質の均一性を評価

自動薄膜計測装置 Auto SE

マイクロスポット機能により数十㎛エリアの膜厚・膜質を分析可能

マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置 GD-Profiler 2

迅速深さ方向元素分析をH~Uまで対応。超高真空不要ですぐ測れる

カーソルドルミネッセンス測定システム HORIBA CLUE Series/Imaging CL

SEMのボードに挿入でき、ラマン分析とカップリングが可能

[新製品] 蛍光分光測定装置 Fluorolog-QM

超高感度・高波長分解能と高い拡張性で広い発光波長範囲に対応

蛍光寿命測定装置 DeltaFlex/DeltaPro

キャリア寿命評価が可能、多彩な光源波長で、ワイドレンジ(ピコ秒~数秒)に対応

蛍光分光吸光装置 Duetta

新手法! A-TEEM(新三次元蛍光測定)を実現、新たな蛍光指紋測定を提案

遠心式ナノ粒子解析装置 Partica CENTRIFUGE

原液~希薄試料まで解析。少量の異物を凝集観察し、長時間安定に測定可能

ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2 series

一台でナノ粒子の粒子径・ゼータ電位を分析

レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2シリーズ

[特徴・仕様] 大好評の高濃度セルに加えて、画像解析ユニットが新登場

レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2シリーズ オプション

[アクセサリ] ワイドレンジで高濃度まで測定可能な粒子径分布測定装置

固体中酸素・窒素・水素分析装置 EMGA シリーズ EMGA-Pro/Expert

金属や固体材料中の酸素・窒素・水素の分析が可能

[新製品] 微小部X線分析装置 XGT-9000 Expert

B(ホウ素)からの軽元素分析対応、金属薄膜の膜厚分析、電子部品内の透過観察に対応

チャンバー状態監視

プロセス結果に影響のある残留ガスを確認し、歩留まり・稼働率を向上させたい。

Chamber Hearth Monitoring

チャンバー状態監視

[新製品] プラズマ発光モニター EV 2.0

専用ソフトウェアを用いて、高精度にエッチングプロセスやドライクリーニングの終端検出を可能にするプラズマ発光モニター

キャパシタンスマノメータ VG-200S Series

接ガス部にステンレス材料を用いた小型・自己温調タイプの絶対圧力計

[新製品] 装置組込みタイプ 放射温度計 IT-270

小型で業界最高水準の精度を実現した装置組込みタイプの放射温度計 ※自社調べ

[新製品] 四重極形質量分析計 MICROPOLE System QLシリーズ

コンパクトなボディに質量分析計に必要な機能の全てを搭載。チャンバー内のガス成分監視に最適

バブリング供給ライン用 インラインガス濃度モニター IR-300 Series

バブリングを用いたガス供給ラインにおけるプレカーサ―の濃度モニタリング・制御機器

キャパシタンスマノメータ VG Series

オールメタル構造の自己温調型隔膜式真空計

成膜プロセス用チャンバクリーニング終点検知モニター IR-400 Series

CVD装置のドライクリーニングの終端検出を行い、クリーニングプロセス時間の最適化に貢献

非接触 放射温度計 IT-480シリーズ

超小型設計で高精度な温度モニタリング・制御を実現

エンドポイント検出

プラズマプロセスのエンドポイントやプラズマの分布制御により、生産性を向上させたい。

Plasma Solution by OES

生産ラインの半導体プロセスから、研究用途のプラズマ発光分析まで、HORIBAの分光器技術を紹介

[新製品] プラズマ発光モニター EV 2.0

専用ソフトウェアを用いて、高精度にエッチングプロセスやドライクリーニングの終端検出を可能にするプラズマ発光モニター

[新製品] 四重極形質量分析計 MICROPOLE System QLシリーズ

コンパクトなボディに質量分析計に必要な機能の全てを搭載。チャンバー内のガス成分監視に最適

成膜プロセス用チャンバクリーニング終点検知モニター IR-400 Series

CVD装置のドライクリーニングの終端検出を行い、クリーニングプロセス時間の最適化に貢献

ファシリティ管理

毎日手洗浄が必要な現場で、メンテナンス負荷や試薬量を低減し、排水のpH値を安定して測定したい。

ファシリティ管理

スマートファクトリーに向けた連続モニタリングのご提案

[新製品] 工業用無補充式セルフクリーニングpH電極 6122シリーズ

UV光と光触媒で有機汚れを分解

[新製品] 煙道排ガス分析装置 ENDA-5000V2

1台で煙道排ガス中の最大5成分の同時測定が可能。N2O・メタン・SO2の連続計測もサポート

現場型工業用水質計 H-1シリーズ

堅牢性・機能性・保守性を極めた現場形工業用水質計

HF中DOモニター/純水中DOモニター HD-960L

半導体デバイスのWet ProcessにおけるHF中溶存酸素濃度を安定測定

高感度シリカモニター SLIA-300

超純水のシリカ分析に、コンパクト&高感度な新性能

ポータブルガス分析計 PG-300

可搬型で高精度な連続ガス分析が可能

微量ガス分析計 GA-370

微量不純物ガスをppbレベルで常時監視

超純水用2チャンネル比抵抗計 HE-960RW

超純水プラントでの高精度な水質監視に最適。温度補償性能を飛躍的に向上した比抵抗計

AMCモニタリングシステム APシリーズ

時間帯ごとの急激な変動も見逃さない自動連続測定を実現

クリーンルーム測定用 AMCモニタリングシステム APシリーズ

分子状汚染物質の室内大気のトレンドを自動で監視、クリーンルーム内の汚染原因の推定に

PROCESS & ENVIRONMENTAL PRODUCT NAVI

地球環境の保全と産業プロセスにおけるトータルソリューションを提供

水処理用計測システム

純水、上水、プロセス、そして排水まで

自動校正機能付pH計

pH電極の薬液洗浄などを自動化しメンテナンス作業の大幅に削減

▶流体制御  ▶薬液濃度モニタリング  ▶フォトマスク異物検査  ▶半導体材料評価

▶チャンバー状態監視  ▶エンドポイント検出  ▶ファシリティ管理