使用 MESA-50 对钢涂层进行无损的厚度和成分分析钢涂层在防止钢腐蚀方面起着重要作用，因此了解涂层有助于改善钢的性能。XRF 是一种用于测量涂层厚度和成分的强大技术，使用 MESA-50 X射线荧光分析仪对钢上的锌镍涂层进行了无损的厚度和成分分析。
Measurement of Particle Size Distribution of Nanocellulose using Centrifugal Sedimentation MethodNanocellulose is a fibrous material derived from wood that is applied to composite materials and is attracting attention as an advanced material. In order to utilize nanocellulose, it is important to understand the fiber diameter and dispersion state. 3 types of nanocellulose were analyzed using the Partica CENTRIFUGE centrifugal nanoparticle analyzer.
TERS用于表征磷脂双分子层和纳米粒子检测磷脂双分子层是细胞膜的主要成分，同时也作为纳米粒子现在主要进入细胞的选择性渗透屏障。研究纳米粒子和细胞膜之间的相互作用需要具有纳米尺度分辨率能力的分子化学探针。
氧化石墨烯片的TERS和KPFM相关性研究AFM-Raman及其TERS模式，以10nm的空间分辨率显示了氧化石墨烯（GO）片表面结构缺陷和化学基团的纳米图谱分析。TERS图谱与KPFM测量相结合，用于GO表面的实时形貌学、电学和化学成像。这种多参数测量方法扩展了TERS的应用能力，展示了纳米尺度上局部的化学成分和物理性质的直接相关性，这不仅仅适用于2D材料，它几乎可以适用于任何样品表面。
液体环境中的侧向照明和侧向收集的AFM-TERS测量拉曼光谱耦联原子力显微镜（AFM）已被证明是探测纳米尺度化学性质的有力技术。液体中的TERS在生物样品的原位研究、催化和电化学反应等方面都有很好的应用前景。
3D拉曼成像通过部分阳离子交换的拓扑过程，在单晶KTiOPO4中制造了分段式通道波导。离子交换后的波导保持了KTiOPO4的高非线性敏感性，可以作为频率加倍的激光光源使用。我们应用三维（3D）拉曼成像来表征化学键和晶体结构的变化，以及测量波导段的体积大小。
GD-OES，磁控溅射薄膜沉积分析的配套工具脉冲式射频 GD-OES 是磁控溅射沉积的理想配套分析工具。磁控溅射是等离子气相沉积的一种，PVD镀膜机的真空室充满惰性气体（例如氩气），通过施加高电压（RF、HIPIMS 等）产生辉光放电，离子加速到目标表面和等离子涂层，氩离子溅射靶材表面材料，从而在衬底上形成膜层。
射频GD-OES 测定氢和氘射频GD-OES 因对薄膜和厚膜的超快元素深度分布而闻名，可以测量所有元素，包括氢 (H)，这在许多应用领域都很重要 ，比如用于腐蚀研究、光伏、冶金、储氢材料的开发以及所有聚合物涂层研究等。H 最敏感的发射线位于VUV 范围内的121,567 nm。
用TEOS表征MoS2TEPL和TERS图像与AFM同时获得的形貌学图像具有很好的相关性，并且在揭示MoS2薄片的性质（层数）方面都是一致的。在去卷积之后，TEPL信号甚至能够揭示100 nm大小的MoS2薄片内的局部不均匀性。开尔文探针测量支持TEPL和TERS测量，并增加了这种针尖增强耦合工具的能力。通过更好地理解二维材料在纳米尺度上的电学和化学性质，二维材料的针尖增强光谱（TEOS）表征可能有助于将这些材料进一步商品化。
二维WS2的拉曼和光致发光成像拉曼和光致发光光谱揭示了二维材料固态结构的不同方面。用一台仪器同时进行的拉曼和光致发光成像揭示了二维晶体的固态结构和电子特性的空间变化，而这种变化在反射白光成像中是无法显示的。这种能力应该使材料科学家能够更好地设计和制造基于二维晶体的电子和光电设备。
碳纳米管的针尖增强拉曼光谱表征利用TERS揭示碳纳米管结构中的缺陷密度，对于更好地理解用这种纳米物体制成的器件的电学性质具有重要意义。通过TERS不仅可以研究缺陷浓度，而且可以研究不同径向呼吸模式下的局部手性变化，还可以研究单个碳纳米管水平上的压力效应和应变分布。
通过拉曼光谱测定MoS2的层数两种分析方法--指纹模式分析（层内）和低频模式分析（层间）--给出了互补的结果，来确定MoS2的层数。方法2（使用低频模式）给出了很好的对比度；但是它没有显示出单层区域（这与模式的性质有关，是由至少两层之间的相互作用引起的）。方法1（使用指纹模式）显示所有的层，但对比度较差，特别是对于较多的层数。结合这两种分析方法可以得到更好的结果。所有的测量（低频和指纹）都是使用超低频ULFTM滤光片完成的，它允许在全拉曼范围内进行高通量测量，低至<10 cm-1。
通过拉曼光谱对SWCNT进行质量控制拉曼在表征SWCNTs的结构方面显示出很大的潜力。有关结构的知识与纳米管的物理和化学特性之间的相关性使该技术在控制SWCNTs的质量以满足特定应用方面具有极大的威力。拉曼光谱仪的能力，如空间分辨率、光谱分辨率和激发波长的多样性，已经得到检验。除了拉曼技术，初步的荧光研究也说明了这项技术的潜力。
拉曼光谱在石墨烯表征中的应用石墨烯是一种新的纳米材料，在未来可能部分取代微电路和计算机芯片中的硅，为了更好地了解其质量特性，需要快速可靠的技术来提供正确的属性测量，拉曼光谱已经成为研究这种特殊材料的一种关键技术。
椭圆偏振光谱仪表征掺杂和未掺杂晶体金刚石结构本文成功的利用椭圆偏振光谱仪表征了掺杂和未掺杂的金刚石层的厚度和光学性质。椭偏仪非常灵敏，可以有效区分掺杂层和未掺杂层。此外，还检测到了两层间界面。椭偏仪灵敏度高可以提供广泛的信息，是表征材料光学和结构特性的优选技术。
从硬碳薄膜的拉曼光谱推导出物理参数众所周知，元素碳材料的拉曼光谱对多聚物很敏感。对于硬碳薄膜，无定形碳和类金刚石的光谱可以通过带状拟合来分离 "石墨碳"（G带）和 "无序碳"（D带）的贡献。碳膜的光谱行为已经与薄膜的物理特性相关，如硬度、耐久性、光学透明度、导电性、导热性和耐腐蚀性，并可用于预测这些特性，而无需进行广泛的替代测试。DiskRam被设计成自动收集计算机硬盘介质上的硬碳涂层的拉曼光谱，并提取与薄膜特性有很好关联的参数。提取的信息以电子表格的形式输出，用于制造厂的SPC。
