材料研究

钢涂层在防止钢腐蚀方面起着重要作用，因此了解涂层有助于改善钢的性能。XRF 是一种用于测量涂层厚度和成分的强大技术，使用 MESA-50 X射线荧光分析仪对钢上的锌镍涂层进行了无损的厚度和成分分析。

TERS Characterization of Single- to Few-Layer Ti₃C₂Tₓ MXene

MXenes is the largest and fastest growing 2D materials. They have unique properties such as good conductivity and a hydrophilic surface. The control of nanoscale composition would ultimately allow for engineering properties locally, gaining more control over the 2D material-based systems.

本应用文档研究了Aqualog用于饮用水处理中可溶性有机物(DOM)及其消毒副产物的监测。

The Flowing Gas Technique for determining BET Surface Area has been in use for over 70 years. Many facets of the technology make it a very attractive alternative to the Static-Volumetric approach. Detection is done by measuring a gas concentration difference instead of an absolute pressure. Difference measurements are typically more accurate than many absolute measurements.

A feasibility study to measure low specific surface areas was performed using Certified Reference Materials consisting of two alpha-alumina powders and one quartz powder. The results show the SA-9600 can measure low specific surface area, with great agreement with certified values.

Nanocellulose is a fibrous material derived from wood that is applied to composite materials and is attracting attention as an advanced material. In order to utilize nanocellulose, it is important to understand the fiber diameter and dispersion state. 3 types of nanocellulose were analyzed using the Partica CENTRIFUGE centrifugal nanoparticle analyzer.

有机忆阻器的出现受到了低重复性、耐久性、可扩展性和低开关速度的阻碍。了解分子尺度上的主要驱动机制将是提高这种有机基器件的坚固性和可靠性的关键。

Co-localized microscopy techniques for pyrite mineral spatial characterization

In this study we have chosen to investigate pyrite and its surrounding minerals in order to identify the different mineral phases as well as the chemical variations from micro- to nano-scale. Using the different microscopes instruments and being co-localized allows a comprehensive characterization of the sample and a precise superimposition of all the images.

TERS Characterization of Graphene Nanoribbons

本应用案例报告了通过喷雾闪蒸两种爆炸性有机化合物（CL-20和HMX）制备的结晶纳米颗粒的TERS表征。

Elemental distribution is crucial for material science. The XGT-9000 Series provides this information non-destructively.

TERS Characterization of phospholipid bilayers and detection of nanoparticles

磷脂双分子层是细胞膜的主要成分，同时也作为纳米粒子现在主要进入细胞的选择性渗透屏障。研究纳米粒子和细胞膜之间的相互作用需要具有纳米尺度分辨率能力的分子化学探针。

微观金属颗粒的快速分析是工程领域的重要应用（例如发动机磨损分析）。特定碎片的显微XRF扫描和点分析可以获得它们的化学成分。

目前还不清楚共晶纳米颗粒（共结晶性与纳米结构相结合）如何比单一化合物晶体具有更好的性能。只有探测单个纳米颗粒的技术才能找到答案。

Optical Micro-spectroscopies on a Path to Identify the Source of Life

本文将介绍如何结合HORIBA拉曼光谱和X射线荧光显微分析仪来阐明宇宙的起源，并以陨石碎片和石英基质中水包裹体为例进行详细说明。

Correlated TERS and KPFM of Graphene Oxide Flakes

AFM-Raman及其TERS模式，以10nm的空间分辨率显示了氧化石墨烯（GO）片表面结构缺陷和化学基团的纳米图谱分析。TERS图谱与KPFM测量相结合，用于GO表面的实时形貌学、电学和化学成像。这种多参数测量方法扩展了TERS的应用能力，展示了纳米尺度上局部的化学成分和物理性质的直接相关性，这不仅仅适用于2D材料，它几乎可以适用于任何样品表面。

脉冲式射频GD-OES可以用于研究不同的电镀样品。光斑尺寸的灵活性、脉冲射频源以及微分干涉仪的引入使射频GD-OES 成为电镀行业的关键技术。

AFM-TERS measurements in a liquid environment with side illumination/collection

拉曼光谱耦联原子力显微镜（AFM）已被证明是探测纳米尺度化学性质的有力技术。液体中的TERS在生物样品的原位研究、催化和电化学反应等方面都有很好的应用前景。

Three Dimensional Raman Imaging

通过部分阳离子交换的拓扑过程，在单晶KTiOPO4中制造了分段式通道波导。离子交换后的波导保持了KTiOPO4的高非线性敏感性，可以作为频率加倍的激光光源使用。我们应用三维（3D）拉曼成像来表征化学键和晶体结构的变化，以及测量波导段的体积大小。

Magnetron sputtering is a type of Plasma Vapour Deposition that uses magnetic fields to keep the plasma in front of the target, intensifying the bombardment of ions.

脉冲式射频 GD-OES 是磁控溅射沉积的理想配套分析工具。磁控溅射是等离子气相沉积的一种，PVD镀膜机的真空室充满惰性气体（例如氩气），通过施加高电压（RF、HIPIMS 等）产生辉光放电，离子加速到目标表面和等离子涂层，氩离子溅射靶材表面材料，从而在衬底上形成膜层。

将金属表面与具有等离子体效应的荧光分子结合使用，有时被称为金属增强荧光，可能会增强光物理性质，因此在很多领域具有优势。例如，可以提高荧光团的发射强度

我们能准确、快速地测量材料中的碳含量吗？

本应用说明的目的是解释土壤中有机碳和无机碳的测定，以及如何制备样品以去除土壤样品中的无机碳（碳酸盐）。

Correlated TERS, TEPL and SPM Measurements of 2D Materials

在以实际纳米器件的形式实现二维材料的前景之前，还有许多挑战。一种可采集信息丰富的纳米级表征技术来鉴定这些二维材料，并协助推广这些基于二维材料的应用。

Characterization of diamond layers by SE: crystalline undoped diamond layers on silicon substrate.

本文成功的利用椭圆偏振光谱仪表征了掺杂和未掺杂的金刚石层的厚度和光学性质。这些信息对于优化金刚石层的效率很重要。

上转换镧系纳米材料表现出一种独特的荧光反斯托克斯位移，使其能够将近红外波长激发转化为可见的更短波长发射(近红外到紫外-可见)。

InGaAs/GaAs和InAs/GaAs量子点 (QD) 可以进行带内载流子跃迁，被认为是太赫兹范围内各种应用的合适候选者。

脉冲式射频辉光放电光谱仪为薄膜太阳能电池提供了快速元素深度剖析能力，可优化和控制蒸发、沉积或热处理过程中的每个阶段，并可对观测到的变化快速做出反应。

Measurement of Hydrogen (and Deuterium) by RF GDOES

射频GD-OES 因对薄膜和厚膜的超快元素深度分布而闻名，可以测量所有元素，包括氢 (H)，这在许多应用领域都很重要，比如用于腐蚀研究、光伏、冶金、储氢材料的开发以及所有聚合物涂层研究等。H 最敏感的发射线位于VUV 范围内的121,567 nm。

A flake of MoS2: the TEPL shift image derived from fitting the PL peak through regression analysis.

TEPL和TERS图像与AFM同时获得的形貌学图像具有很好的相关性，并且在揭示MoS2薄片的性质（层数）方面都是一致的。在去卷积之后，TEPL信号甚至能够揭示100 nm大小的MoS2薄片内的局部不均匀性。开尔文探针测量支持TEPL和TERS测量，并增加了这种针尖增强耦合工具的能力。通过更好地理解二维材料在纳米尺度上的电学和化学性质，二维材料的针尖增强光谱（TEOS）表征可能有助于将这些材料进一步商品化。

Combined Raman and Photoluminescence Imaging of 2D WS2

拉曼和光致发光光谱揭示了二维材料固态结构的不同方面。用一台仪器同时进行的拉曼和光致发光成像揭示了二维晶体的固态结构和电子特性的空间变化，而这种变化在反射白光成像中是无法显示的。这种能力应该使材料科学家能够更好地设计和制造基于二维晶体的电子和光电设备。

Characterization of Carbon Nanotubes using Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS)

利用TERS揭示碳纳米管结构中的缺陷密度，对于更好地理解用这种纳米物体制成的器件的电学性质具有重要意义。通过TERS不仅可以研究缺陷浓度，而且可以研究不同径向呼吸模式下的局部手性变化，还可以研究单个碳纳米管水平上的压力效应和应变分布。

A combined (low-frequency and fingerprint) Raman map of MoS2 layers.

两种分析方法--指纹模式分析（层内）和低频模式分析（层间）--给出了互补的结果，来确定MoS2的层数。方法2（使用低频模式）给出了很好的对比度；但是它没有显示出单层区域（这与模式的性质有关，是由至少两层之间的相互作用引起的）。方法1（使用指纹模式）显示所有的层，但对比度较差，特别是对于较多的层数。结合这两种分析方法可以得到更好的结果。所有的测量（低频和指纹）都是使用超低频ULFTM滤光片完成的，它允许在全拉曼范围内进行高通量测量，低至<10 cm-1。

C60 (a) and C70 (b) fullerenes.

椭圆偏振光谱仪测定了C60和C70薄膜在0.6~6.5eV（即190-2100nm）的光学常数。光学尝试提供的信息可以更好的了解这种材料的电子结构。

Main properties determined by Spectroscopic Ellipsometry.

UVISEL椭圆偏振光谱仪是表征无定型碳薄膜厚度和光学常数的理想工具，即使膜层很薄也可以实现，还可以获得粗糙度和界面“附着力”。

RBM spectrum that represents tubes with at least 3 different properties.

拉曼在表征SWCNTs的结构方面显示出很大的潜力。有关结构的知识与纳米管的物理和化学特性之间的相关性使该技术在控制SWCNTs的质量以满足特定应用方面具有极大的威力。拉曼光谱仪的能力，如空间分辨率、光谱分辨率和激发波长的多样性，已经得到检验。除了拉曼技术，初步的荧光研究也说明了这项技术的潜力。

Spectra of carbon films that require a fit with 2 and 3 bands.

各种形式的碳元素的拉曼光谱对近邻键的类型以及中间和远距离秩序非常敏感。在许多情况下，拉曼光谱是表征碳材料的重要技术。拉曼光谱特征与摩擦学特性的相关性可以促进碳膜的沉积。

A Raman map of a graphene sample on a SiO2/Si substrate performed using the XploRA Raman spectrometer with a 532 nm laser excitation: Multivariate analysis.

石墨烯是一种新的纳米材料，在未来可能部分取代微电路和计算机芯片中的硅，为了更好地了解其质量特性，需要快速可靠的技术来提供正确的属性测量，拉曼光谱已经成为研究这种特殊材料的一种关键技术。

Characterization of diamond layers by SE: crystalline undoped diamond layers on silicon substrate.

本文成功的利用椭圆偏振光谱仪表征了掺杂和未掺杂的金刚石层的厚度和光学性质。椭偏仪非常灵敏，可以有效区分掺杂层和未掺杂层。此外，还检测到了两层间界面。椭偏仪灵敏度高可以提供广泛的信息，是表征材料光学和结构特性的优选技术。

A typical spectrum of a hard carbon film.

众所周知，元素碳材料的拉曼光谱对多聚物很敏感。对于硬碳薄膜，无定形碳和类金刚石的光谱可以通过带状拟合来分离 "石墨碳"（G带）和 "无序碳"（D带）的贡献。碳膜的光谱行为已经与薄膜的物理特性相关，如硬度、耐久性、光学透明度、导电性、导热性和耐腐蚀性，并可用于预测这些特性，而无需进行广泛的替代测试。DiskRam被设计成自动收集计算机硬盘介质上的硬碳涂层的拉曼光谱，并提取与薄膜特性有很好关联的参数。提取的信息以电子表格的形式输出，用于制造厂的SPC。

Photoluminescence Spectroscopy of Quantum Dots

量子点在光电子学、生物传感、生物标记、存储器件和激光光源等领域都有着潜在的应用。

HORIBA Jobin Yvon的NanoLog®荧光光谱仪，专门为纳米材料的近红外荧光检测而优化，包括双光栅激发单色仪、带可选光栅转台的成像发射光谱仪和多种探测器。

留言咨询

如您有任何疑问，请在此留下详细需求信息，我们将竭诚为您服务。

姓

名 *

公司院校 *

邮编 *

城市

国家/地区 *

省份

E-Mail *

电话

HORIBA部门

您的详细需求 *

我已阅读并同意HORIBA的隐私政策

Related Products

TDM-时域单色仪

详情 TDM-时域单色仪

Aqualog 同步吸收- 三维荧光光谱仪

详情 Aqualog 同步吸收- 三维荧光光谱仪

有机物分析&早期预警

nanoGPS navYX

详情 nanoGPS navYX

Collaborative Correlative Microscopy

LabRAM Soleil Nano

详情 LabRAM Soleil Nano

纳米拉曼光谱仪

Ultima

超快时间相关单光子计数荧光寿命测试系统

Partica CENTRIFUGE CN-300

详情 Partica CENTRIFUGE CN-300

离心式粒度分析仪

GD-Profiler 2™辉光放电光谱仪

详情 GD-Profiler 2™辉光放电光谱仪

用辉光放电光谱仪去发现一个崭新的信息世界

LabRAM Odyssey Nano

详情 LabRAM Odyssey Nano

纳米拉曼光谱仪

SpectraLED

详情 SpectraLED

LED磷光光源

Ammonia Electrode Filling Solution

详情 Ammonia Electrode Filling Solution

FluoroMax

详情 FluoroMax

高灵敏一体式荧光光谱仪

graphYX

Correlate Multiple Modalities with Ease

XGT-9000

详情 XGT-9000

微区X射线荧光分析仪

Calcium Electrode Filling Solution

详情 Calcium Electrode Filling Solution

XploRA Nano

详情 XploRA Nano

纳米拉曼光谱仪

TW-150

在线水质分析仪

Chloride Electrode Filling Solution

详情 Chloride Electrode Filling Solution

LabRAM Soleil

详情 LabRAM Soleil

高分辨超灵敏智能拉曼成像仪

ICP Neo

ICP Software

Nanolog

模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪

TW-100

给水监测仪

F-CLUE

紧凑型高光谱阴极荧光

TRIOS

多光路耦合纳米拉曼光谱仪

Nitrate Electrode Filling Solution

详情 Nitrate Electrode Filling Solution

XploRA™ PLUS

详情 XploRA™ PLUS

拉曼光谱-共焦拉曼光谱仪

LabRAM Odyssey

详情 LabRAM Odyssey

高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪

Potassium Electrode Filling Solution

详情 Potassium Electrode Filling Solution

Aqualog -水环境研究分析仪

详情 Aqualog -水环境研究分析仪

水环境CDOM研究的黄金准则

HE-200C

现场安装型电导率计（四线制传输，低浓度）

EMIA-Step

详情 EMIA-Step

碳/硫分析仪

9551-100D DO Electrode

详情 9551-100D DO Electrode

OmegaScope

详情 OmegaScope

AFM光学工作站

EMIA-Expert碳硫分析仪

详情 EMIA-Expert碳硫分析仪

碳硫分析仪

DeltaTime

详情 DeltaTime

时间相关单光子计数荧光寿命测试系统

DeltaPro

详情 DeltaPro

全自动模块化荧光寿命光谱仪

UVISEL PLUS椭圆偏振光谱仪

详情 UVISEL PLUS椭圆偏振光谱仪

研究级经典型椭偏仪

EMIA-Pro

详情 EMIA-Pro

碳硫分析仪

DeltaFlex

详情 DeltaFlex

全自动模块化荧光寿命光谱仪

84 uS/cm Conductivity Standard Solution

详情 84 uS/cm Conductivity Standard Solution

HE-480C

面板安装型电导率计（四线制传输，低浓度）

HE-300C

现场安装型电导率计（二线制传输，低浓度）

iHR系列

详情 iHR系列

中等焦长成像光谱仪

1413 uS/cm Conductivity Standard Solution

详情 1413 uS/cm Conductivity Standard Solution

HP-960FTP

详情 HP-960FTP

面板安装型 pH 计 (四线制传输, 4点报警和时间分割比例控制功能)

12.88 mS/cm Conductivity Standard Solution

详情 12.88 mS/cm Conductivity Standard Solution

111.8 mS/cm Conductivity Standard Solution

详情 111.8 mS/cm Conductivity Standard Solution

HP-480PL

详情 HP-480PL

面板安装型 pH 计 (四线制传输, 脉冲比例控制)

pH Standard Solution 100-7

详情 pH Standard Solution 100-7

pH Standard Solution 100-9

详情 pH Standard Solution 100-9

pH Standard Solution 100-10

详情 pH Standard Solution 100-10

9480-10C Long ToupH electrode (for large containers and long test tubes)

详情 9480-10C Long ToupH electrode (for large containers and long test tubes)

Condensed pH Standard Solution 110-4

详情 Condensed pH Standard Solution 110-4

9481-10C Sleeve ToupH electrode (for viscous and non-aqueous samples)

详情 9481-10C Sleeve ToupH electrode (for viscous and non-aqueous samples)

9418-10C Micro ToupH electrode (for low-volume samples)

详情 9418-10C Micro ToupH electrode (for low-volume samples)

Potassium Ionic Strength Adjustor

详情 Potassium Ionic Strength Adjustor

9415-10C Standard ToupH electrode (for general laboratory application)

详情 9415-10C Standard ToupH electrode (for general laboratory application)

Condensed pH Standard Solution 110-7

详情 Condensed pH Standard Solution 110-7

Condensed pH Standard Solution 110-10

详情 Condensed pH Standard Solution 110-10

Powder for pH Standard Solution 150-4

详情 Powder for pH Standard Solution 150-4

9615S-10D Standard ToupH electrode (for general laboratory application)

详情 9615S-10D Standard ToupH electrode (for general laboratory application)

Powder for pH Standard Solution 150-7

详情 Powder for pH Standard Solution 150-7

Powder for pH Standard Solution 150-9

详情 Powder for pH Standard Solution 150-9

9618S-10D Micro ToupH electrode (for low-volume samples)

详情 9618S-10D Micro ToupH electrode (for low-volume samples)

Thiocyanate ion electrode 8009-10C

详情 Thiocyanate ion electrode 8009-10C

9680S-10D Long ToupH electrode (for large containers and long tubes)

详情 9680S-10D Long ToupH electrode (for large containers and long tubes)

Fluoride ion electrode 8010-10C

详情 Fluoride ion electrode 8010-10C

9651-10D (for field testing)

详情 9651-10D (for field testing)

Silver ion electrode 8011-10C

详情 Silver ion electrode 8011-10C

9681S-10D Sleeve ToupH electrode (for viscous and non-aqueous samples)

详情 9681S-10D Sleeve ToupH electrode (for viscous and non-aqueous samples)

Sodium ion electrode 1512A-10C

详情 Sodium ion electrode 1512A-10C

Nitrate ion electrode 8201-10C

详情 Nitrate ion electrode 8201-10C

9625-10D (for general-purpose use)

详情 9625-10D (for general-purpose use)

Potassium ion electrode 8202-10C

详情 Potassium ion electrode 8202-10C

Calcium ion electrode 8203-10C

详情 Calcium ion electrode 8203-10C

9630-10D (for low conductivity samples)

详情 9630-10D (for low conductivity samples)

9631-10D (for hydrofluoric acid or HF samples)

详情 9631-10D (for hydrofluoric acid or HF samples)

9632-10D (for strong alkali samples)

详情 9632-10D (for strong alkali samples)

6367-10D (for high accuracy pH measurement)

详情 6367-10D (for high accuracy pH measurement)

6252-10D (for food samples)

详情 6252-10D (for food samples)

Glass Electrode 1066A-10C

详情 Glass Electrode 1066A-10C

Standard type

Glass Electrode 1076A-10C

详情 Glass Electrode 1076A-10C

For measurement of low-conductivity water and non-aqueous solvents.

6069-10C (for very slender test tubes)

详情 6069-10C (for very slender test tubes)

6261-10C (for flat surface measurement)

详情 6261-10C (for flat surface measurement)

XGT-7200

详情 XGT-7200

X-ray Analytical Microscope

MESA-50K

详情 MESA-50K

X射线荧光分析仪

MESA-50

X 射线荧光分析仪