Analytical Solution Plazaでは、幅広いアプリケーションに対応した受託分析を請け負っています。分析装置メーカの技術力とノウハウを受託分析でお気軽にご活用ください。
「アプリケーションから探す」では、測定例をご覧いただくことができます。お客様のニーズに合わせた分析例を各アプリケーションカテゴリーからご確認ください。
ご希望の分析手法・分析対象が決まっている場合は、「分析手法・分析対象から探す」をご確認ください。






分析手法 分析対象
表面分析 マーカス型グロー放電分析(GD-OES) 元素分析・定量分析・深さ方向分布
分光エリプソメトリー 膜厚・光学定数(屈折率・消衰係数など)表面ラフネス・バンドギャップ・結晶化率・多層膜構造
分光分析 蛍光分光 蛍光・りん光スペクトル・蛍光寿命
ラマン分光 構造解析(定性・結晶性・応力・配向など)のポイント分析とマッピング・TERS
フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR) 構造解析(定性・結晶性など)のポイント分析とマッピング
カソードルミネッセンス(CL) バンドギャップ・欠陥・不純物のポイント分析とイメージング
フォトルミネッセンス(PL) バンドギャップ・欠陥・不純物のポイント分析とマッピング
油分濃度計油分濃度
元素分析エネルギー分散型X線分析(EDX) 元素分析のポイント分析とマッピング
蛍光X線(XRF) 元素分析・定量分析
顕微蛍光X線(µ-XRF) 元素分析・定量分析のポイント分析とマッピング
無機/有機 元素分析 炭素・硫黄/酸素・窒素・水素の定量分析
粒子解析レーザ回折/散乱法 粒子径分布(粒度分布)
動的光散乱法粒子サイズ・ゼータ電位・分子量
クロマトグラフィー イオンクロマトグラフィー イオン種の定量・定性分析
画像 X線透過観察X線透過画像
電子顕微鏡 反射電子像・二次電子像
光学顕微鏡明視野・暗視野・偏光観察・微分干渉
分析機器開放 ▶

分析ご相談窓口

受託分析のお問合せは「受託分析のお問合せ」から、お申し込みください。
分析技術に関するご質問は、「技術相談窓口」フォームへご記入ください。
メールでのお問い合わせは、application.jp@horiba.com へご連絡ください。

受託分析 / 製品に関する依頼分析を受け付けております。   技術相談窓口    受託分析約款