堀場テクノサービスが運営している分析ラボ"Analytical Solution Plaza"では、皆様にHORIBA分析装置と実験設備をご利用いただける「開放研究室」を提供しています。専門の分析技術者がお客様のそばでオペレーションや解析をサポートし、それぞれのお悩みに対して適したソリューションを提供いたします。結果を確認しながら、前処理や分析条件、実験方針をフレキシブルに検討できるため、多くのお客様にご好評いただいている分析プランです。
HORIBA分析技術者が条件設定・操作・解析・実験方針サポート
お客様ご自身での装置オペレーションも可能
手持ち機器の持ち込みOK
ラボ内の前処理ツール・設備が利用可能
複数手法を用いた多角的な分析が可能
| 料金一覧 | 6時間 440,000円～ |
| 3時間 220,000円～ |
※利用時間の延長やオプション利用によって費用が変わることがあります。
※分析内容によって実施場所が異なります。
※料金は諸経費を含みます。
まずはお気軽にご相談ください。
京都本社Analytical Solution Plaza地図
東京Analytical Solution Plaza地図
| 粒子計測 | 分析内容（例） |
|---|---|
| レーザ回折／散乱式 | 粒子径分布（温式／乾式／高濃度） |
| 画像解析 | 粒子径分布／形状解析 |
| 動的光散乱式（DLS） | 粒子径分布／ゼータ電位／ゲル解析 |
| 遠心沈降式 | 粒子径分布 |
| 粒子軌跡解析（PTA） | 粒子径分布／個数濃度 |
| 顕微鏡観察 | |
| 原子間力顕微鏡画像（AFM） | トポグラフィー／接触電位差像 |
| 光学顕微鏡画像（OM） | 明視野／暗視野／偏光観察／微分干渉 |
| 電子顕微鏡画像（SEM） | 反射電子像／二次電子像 |
| 元素分析 | |
| 走査電子顕微鏡 - エネルギー分散型X線（SEM-EDX） | X線スペクトル／イメージング |
| 微小部蛍光X線（μEDXXRF） | 微小部元素分析／イメージング |
| マクロ元素分析／油中S分析／RoHS分析 | |
| 固体中C,S濃度測定／昇温分析 | |
| 固体中酸素・窒素・水素（不活性ガス融解 - 赤外／TCD検出） | 固体中O,N,H濃度測定／昇温分析 |
| 高周波グロー放電発光（GD-OES） | 深さ方向元素分析 |
| ICP発光（ICP-OES） | 溶液中微量成分の定性・定量 |
| 物性分析・組成分析・構造解析 | |
| 分光エリプソメトリー | 膜厚／光学定数（n&K）／物質特性 |
| カソードルミネッセンス（CL） | 結晶性、不純物単位／濃度、組成、応力 |
| フォトルミネッセンス（PL） | 結晶性／欠陥 |
| ラマン分光 AFM- ラマン分光統合装置 | チップ増強ラマン（TERS）測定 |
| 顕微ラマン分光測定装置 | 顕微ラマン分光／イメージング |
| マクロラマン／透過ラマン | マクロ成分分析 |
| 赤外分光（FT-IR） | 有機化合物の構造推定（定性／定量） |
| 蛍光分光 | 励起発光スペクトル（紫外～近赤外）、励起 - 蛍光マトリクス（EEM） |
| 蛍光寿命 | 時間相関単一光子計測法（TCSPC） |
| 表面プラズモン共鳴イメージング（SPRi） | 分子間相互作用 |
| ガスクロマトグラフ質量分析（GC-MS） | RoHS分析 |
| 溶液測定 | |
| 油分濃度（溶媒抽出 - 赤外吸収法） | 固体・液体中の油分濃度 |
| 旋光度 | 光学活性物質の旋光度 |
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