AFM Raman

AFM-Raman XploRA Nano
AFM-Raman LabRAM Odyssey Nano

原子間力顕微鏡（AFM）-ラマン分光統合装置

1台2役！TERS・SNOMによるナノイメージング装置も可能！

※AFM : Atomic Force Microscope(原子間力顕微鏡)
※TERS : Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (チップ増強ラマン分光)
※SNOM : Scanning Near-field Optical Microscope (走査型近接場顕微鏡)

AFM測定とラマン分光測定を試料を移動させず1台でこなす統合装置です。照射レーザ光のアライメント機構などにより容易に操作でき、高速データ処理、高い信頼性を実現しました。またTERS・SNOM測定によるナノイメージングも可能です。

 

AFM-Raman + XploRA PLUS　→XploRA Nano
AFM-Raman + LabRAM Odyssey　→LabRAM Odyssey Nano

事業セグメント: 科学
製造会社: HORIBA Scientific
  • 対物レンズスキャナを用いたレーザ照射ポイントのファインアライメント

  • 垂直・斜方向に高NAの対物レンズ(0.7)を配置し、測定モードに合わせた最適な光学系を選択

 

  • 1300 nm ダイオードをカンチレバーフィードバックに採用し、可視～近赤外領域においてダイオード光の干渉のない測定を実現

  • AFMヘッドを取り外さずサンプル・チップ交換可能。交換前後のカンチレバー位置を自動調整

  • カンチレバータイプおよびチューニングフォークを用いたメタルチップのTERS測定が可能
  • LabRAM HR Evolutionとの統合により、紫外～近赤外領域まで高スペクトル分解能の測定を実現
  • 1 台のPCでAFMとラマン分光装置を制御。

 

カーボンナノチューブのTERSイメージ

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スキャナ部

スキャン範囲100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)
ノイズXY：0.02 nm (RMS、帯域幅 100 Hz、容量センサオフ）
Z：0.04 nm (RMS、帯域幅 1000 Hz）
最大試料サイズ40 mm x 50 mm x 15 mm (縦×横×高さ)
試料ポジショニング電動駆動範囲5 x 5 mm
試料ポジショニング位置精度1 μm

AFMヘッド

レーザー波長1300 nm
システムノイズ< 0.1 nm

SPM測定モード

  • コンタクトAFM（空気中、液体中（オプション））
  • セミコンタクトAFM(空気中、液体中（オプション）
  • ノンコンタクトAFM
  • 位相イメージング
  • 水平力顕微鏡（LFM）
  • フォースモジュレーション顕微鏡（FMM）
  • 導電性AFM
  • 磁気力顕微鏡（MFM）
  • ケルビンプローブフォース顕微鏡（KPFM）
  • 静電気力顕微鏡（EFM）
  • フォースカーブ測定
  • 圧電応答力顕微鏡（PFM）
  • ナノリソグラフィ
  • ナノマニュピュレーション
  • STM（オプション）
  • 光電流マッピング（オプション）
  • 電圧-電流特性測定（オプション）

分光測定モード

  • 顕微ラマン分光
  • 蛍光分光
  • フォトルミネッセンス分光
  • Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS)
  • Tip-Enhanced Photoluminescence Spectroscopy  (TEPL)
  • STM
  • NSOM/SNOM
Size: 3.4 MB
原子間力顕微鏡 (AFM) ラマン

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