| 励起光源 | 75W Xeショートアークランプ(オプション:450W) 全波長で最大の効果が得られるミラーによる集光 オプションでリン光用Xeフラッシュランプの搭載も可能 |
| 光学系 | 全反射型(微小サンプルでも全波長でフォーカシング可能でかつ正確なイメージングが可能) |
| 分光器 | グレーティングおよび反射光学系を採用したツェルニィ・ターナーマウント シングル分光器またはダブル分光器を選択可能スリットは連続的に調整可能 グレーティングは最適な仕様のものに交換可能 |
| 試料室 | はめ込み型の各種サンプル台アセンブリーに対応 リアルタイム励起光補正用検出器付 第二蛍光検出チャンネルの使用を可能にするT型配置光学系を拡張可能 試料台は取り外し可能、 表面測光光学系を搭載可能 |
| 検出器 | ■励起側200-980 nm対応 励起リファレンス補正用フォトダイオード ■発光側発光計測用はPMT、フォトダイオードなど搭載可能。対応波長範囲 190~5500 nm |
| スリット幅 | コンピュータ制御による自動連続開閉可能。バンドパス範囲 0〜30 nm |
















