製薬・食品・化学などの分野において粉末試料を活用するケースが数多くありますが、粉末試料において粒子を分析する際には、組成・構造はもちろんのこと、粒子サイズ・形状などバルク試料では求められない分析項目があります。また粒子単位で分析する場合、測定箇所の設定を1粒子ごとに行う必要があり、大変手間のかかる分析となります。 このような分析を容易に実現するためにHORIBAは様々な技術を取り揃えています。
自動粒子解析ソフトウェア「PartcleFinder」は、数百~数千個の粒子の位置を光学イメージからすばやく検出し、粒子サイズ/形状とラマンスペクトルによる化学組成情報を関連づけて、自動で測定できます。 PartcleFinderを使うことで、一粒子ごとの成分分析や形状認識、粒径分析などの粒子解析が可能です。
従来のスパチュラなどでの粉末分散作業は凝集が発生しやすい
微小粉末試料を均一に分散
試料を均一に分散させ、粒子解析ソフトで各粒子を自動分析することで、混合物の統計解析が可能です。
ラマン分光法では検出が難しい金属類の粒子解析には、微小部X線分析装置XGT-9000の粒子検出機能が便利です。 粒子を自動で検出し、多点測定も自動で行います。 光学像、元素マッピング像、透過X線像のいずれにおいても利用でき、容易に粒子の分類を行うことができます。
詳細はこちらHORIBAでは顕微ラマン分光装置だけでなく、粒子分析が可能な分析装置を数多く取り揃えております。 ナノメートルオーダの粒子からミリメートルオーダの粒子まで、粒子径分布(粒度分布)、ナノ粒子径分布、ゼータ電位、画像解析など、様々な断面からの分析手法を提案し、幅広い分野で利用される粒子の最適な評価に貢献します!
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