先端材料

機能性材料をはじめ、各種先端材料の開発における分析、解析評価技術を幅広くご提供します。

二次元材料のAFM像、TERS像、TEPL像を同時に取得。立体形状や構造情報（層数・欠陥・結晶性など）を解析できます。

ラマンスペクトルによるグラフェン層数の判別

ラマン分光分析で化学情報を取得するだけでなく、AFMと組み合わせることで、表面形状や物理情報まで同時に取得可能です。

試料への入射光と試料からの散乱光の偏光方向を変えながらラマンスペクトルを取得しました。配向状態により、ピークの違いが得られ、CFRP材料中の炭素繊維の配向性を評価できました。

nanoPartica SZ-100V2のゲル解析ユニットを使用することで、ゲルの網目サイズが変化することを確認。 CNFの濃度が上がると密度が高くなり、網目サイズが細かくなります。測定結果より、網目サイズとCNF濃度の間には相関性を確認できました。

吸収波長範囲の広さを近赤外領域まで数十秒のEEM測定で判定可能。量子ドットの粒子サイズの違いによる発光特性を評価できます。

Nanologでは1600 nmまでの近赤外蛍光スペクトルを容易に取得できます。

量子ドットの近赤外発光寿命測定

Nanologでは近赤外領域の蛍光寿命を容易に評価できます。

水素・酸素などの侵入を防ぐバリアフィルムの膜厚や透明性、密着度を評価できます。

有機EL材料の蛍光・発光寿命測定

有機ELはさらなる発光効率の向上や寿命の改善を目指して、材料の研究・開発から品質管理まで幅広く使われています。

100eV以下の極低イオンエネルギースパッタリングにより、分子レベルの深さ分解能で表面近傍を分析でき、単分子膜の配向性を評価できます。