世界初※1！B（ホウ素）からの分析が可能に（対応機種：XGT-9000 Expert）
従来は複数の装置を用いざるを得なかった酸化物や窒化物、有機物などの分析も1台で完結できます。金属やセラミックはもちろんのこと、燃料電池の高分子膜、食品に混入した樹脂を含む異物も高感度に分析できます。また、含水試料・含油試料中の軽元素測定も可能です。
※1 2022 年8 月現在、卓上型のエネルギー分散型蛍光X 線分析装置において
高空間分解能タイプや高感度タイプなど多彩なプローブを搭載
日本の叡智が生んだ高空間分解能プローブや高速マッピングに貢献する高感度プローブなど試料のサイズに合わせて最適なプローブを選択できます。
XGTシリーズに搭載しているX線集光管は、X線の全反射を利用しビームの収束することが可能
科学技術庁 無機材質研究所（現 国立研究開発法人 物質・材料研究機構（NIMS））で発明されました。
適切なプローブを用いることで、微小部位の高分解能分析や試料表面の高速分析を可能にします。
マルチプローブを用いたラピスラズリの元素層画像
（左）100 µm超高強度プローブを用いた元素マッピング像 （右）15 µm超高強度プローブを用いた詳細画像
高感度・高速マッピング － 分析時間短縮に貢献
新しい検出システムによる高感度と広い検出範囲
XGT-9000 Proは、新たに搭載された高度な検出システムにより、従来品よりも高い感度を実現し、XGT-9000 Expertは、高感度かつエネルギー分散型蛍光X線分析装置において最も広い検出元素範囲※2を提供します。感度の向上により測定時間が短縮され、作業効率が向上し、また、検出元素範囲の拡大により、アプリケーションの可能性が広がります。
（左）Cuの強度比較 （右）超軽元素の強度比較
※2 すべての結果は、XGT-9000 Pro/ExpertとHORIBAの従来型マイクロXRFモデルとの比較です。
多彩な機能を搭載
柔軟で使いやすいソフトウェア
XGT-9000ソフトウェア（HORIBA X-RAY LAB）は非常に柔軟で使いやすいインターフェースを備えています。データツリー、光学画像、スペクトル結果、周期表、地図画像結果を一目で表示します。この柔軟性のおかげで、ユーザーは画面上でレイアウトをカスタマイズできます。さらに、結果は複数のモニターで表示可能です。これにより結果をより明確に見ることができ、データ分析も強化されます。最後に、レポートはExcel、Word、PDF形式で生成、印刷、エクスポートが可能です。
アプリケーション
電池：セパレータフィルム上の異物
異物の検出・元素組成分析を行うことで、異物の発生源を推定できます。目視では確認できない埋没した異物や微小異物も高輝度X線とイメージング技術で検出可能になります。また、粒子検出機能により、粒子数や粒子サイズを求めたり、取得した粒子の座標位置から詳細分析を行うこともできます。
生体試料：元素分布測定
生体試料研究において重要な元素分布情報を取得できます。試料内に水分やガスを保持した生体試料は、真空環境下でX線による測定ができませんが、XGT独自の部分真空モードを使用することで、水分やガスを含む試料も測定が可能です。さらに、ヘリウムパージ※3を用いることにより、生体試料でも軽元素分析が可能です。
※3 ヘリウムパージオプション搭載時
測定例：塩害を受けたトマトの葉（ヘリウムパージモードで測定）
金属材料：腐食・汚染部位の表面解析
材料分析において重要な元素分布情報を、非破壊で取得できます。SEM-EDXとは異なり、前処理不要で大きな試料をそのまま分析でき、カーボンや金属コーティング処理をしていない非導電性試料の分析も可能です。酸素の検出※4が可能なため、腐食かどうかの判別ができます。
※4 軽元素検出オプション搭載時
測定例：通常部位と腐食部位の元素情報の比較
軽元素検出オプションを搭載することで、酸素（O）の検出が可能です。
電子部品：故障解析、RoHS 指令
蛍光X線像と透過X線像を同時に取得することで、故障原因となる電子部品内部の欠陥や異物を発見できます。また、RoHS指令対象物質のスクリーニング用途として、規制元素の定性・定量が可能で、専用ソフトウェアを用いることで有害元素の合否判定結果も表示できます。
サービス・サポート
分析機器選定時のデモンストレーションのほか、受託分析、共同研究、アプリケーショントレーニング等を通して、お客様のニーズに合わせた分析技術を提供いたします。 |  |
年一回の保守点検、修理作業時の部品交換、装置復旧時の作業費など装置の保守に必要なすべてを保証し、装置を最適な状態で長期間安心してご使用いただけます。 |  |
