【粒度分布・動的画像解析】レーザー回折・動的画像式 粒子径・形状解析装置
粒子径分布の測定結果と粒子形状の解析結果を一台で、かつ、約1分で得られます。同一箇所を同時に「粒子径分布測定」と画像による「形状解析」することにより、測定時間を大幅に削減でき、研究開発や品質管理の効率化と省スペース化に貢献します。また、液中の粒子だけでなく、粉末やペースト状などさまざまな状態の試料でも画像解析が可能です。
レーザー回折/散乱式では、業界トップクラス※1の高精度測定（標準粒子の規格から±0.6%以内）とワイドレンジ（10 nm～5 mm）を継承しつつ、光学システムの改良を重ねることで、さらに高感度化しました。これにより、ナノ粒子の粒子径分布と、極めて少量の粗大粒子の把握が求められる半導体製造向けの研磨剤などの品質管理向上にも寄与します。
※1 当社調べ（2024年8月1日時点）
【混合粒子の粒子径分布】100 nm以下のナノ粒子を高感度に捉える
動的画像解析式では、1ピクセルあたり最小0.24 μmという高い解像度を備えており、1 μm未満から数mmまでの粒子の形状を精細に捉えます。
毎秒約10,000個の粒子画像を取得し、そのすべてを一粒子ごとに解析し、長径、短径はもちろん、アスペクト比や円形度など、30種類以上※2の形状に関するパラメータで解析できます。
※2 試料条件に依存
操作性や拡張性の高いプラットフォームを構築しました。遠隔操作や自動化、医薬品業界などで求められるデータインテグリティ対応をはじめ、お客様のさまざまなニーズにお応えします。また、モジュール設計を採用することで、ハード面でのカスタマイズ性を高めるとともに、製品メンテナンスにおけるお客様の負荷を軽減します。
| ソフトウェア |
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ハードウェア |
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| レーザー回折・動的画像式 粒子径・形状解析装置 Partica | |
| 測定原理 | レーザー回折/散乱式（Mie散乱理論）・動的画像解析式 |
| 測定レンジ | レーザー回折/散乱式：0.01 ~ 5,000 μm |
| 動的画像式：1ピクセルあたり0.24 μm（解像度） | |
| 電源 | AC 100-240 V 50/60 Hz、300 VA |
| 外形寸法 | 705 mm × 520 mm × 470 mm（W×D×H） |
| 質量（測定部） | 57 kg |
