
搭載可能レーザー | 532nm、638nm、785nm(最大3本。その他の波長はご相談ください) |
ステージ | 電動もしくはマニュアル |
検出器 | CCD検出器(EMCCD検出器も搭載可能) |
粒子解析機能 | 自動粒子解析システム Particle Finder |
オートフォーカス機能 | 全焦点データ自動測定システム ViewSharp |
シリコーン樹脂中のフィラーの種類・分布は樹脂の性能に大きく影響します。ラマンスペクトルの異なる部分を色分けすることでフィラーの分布状態を可視化することができました。
CNTなどのナノマテリアルにおいて、局所的な構造を解明することが求められています。
AFM 顕微ラマン統合装置を用いた TERS分析により、回折限界を超える空間分解能(数十nm ~)でのラマン測定が可能です。
搭載可能レーザー | 532nm、638nm、785nm(最大3本。その他の波長はご相談ください) |
ステージ | 電動もしくはマニュアル |
検出器 | CCD検出器(EMCCD検出器も搭載可能) |
粒子解析機能 | 自動粒子解析システム Particle Finder |
オートフォーカス機能 | 全焦点データ自動測定システム ViewSharp |
* 項目は必ずご記入ください。
SuperHead Fiber Probes
DuoScan™
LabSpec 6 Spectroscopy Suite Software
Standard Pro
Particle Disperser