蛍光X線を用いた電子部品の不具合解析事例

我々の生活に身近で必要不可欠なものになった電子機器は多種多様な微小部品から構成されており、小さな異物でも機器全体の不具合につながります。そのため 、電子機器の品質の確保には微小部の精密な解析が欠かせません 。

本アプリケーションでは 、イオンマイグレーション、ボイド、チップ内異物など、微小部X線分析装置 XGT-9000を用いた電子部品の不具合解析の事例を紹介します。