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マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置 GD Profiler 2
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置(GDS)
rf-GD-OES(GDS)分析装置は、Arプラズマにより試料をスパッタリングさせ、スパッタされた原子を原子発光させることで、元素分析を行う、迅速かつ簡単な表面分析装置・深さ方向元素分析装置として、薄膜・めっき・熱処理・表面処理・コーティングなどの研究開発・生産技術・品質管理の分野において、幅広く活用されています。高周波方式グロー放電を採用しているため、非導電性試料でも表面分析が可能です。
といった、表面分析/深さ方向分析のお悩み・お困りにお応えすることができます。
* 項目は必ずご記入ください。
Accessories for samples with various shapes, sizes and properties
Quantum and Image