レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置(粒度分布) LA-960V2 高濃度測定用セル

概要

高濃度サンプルにおいても希釈などの前処理の必要なく測定。

溶媒に分散された粒子の原液での分散状態を知る上で、原液または高濃度での粒子径分布(粒度分布)測定は、簡便かつ有効な手段です。レーザー回折散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2 高濃度測定用セルは、高濃度サンプルにおいても希釈などの前処理の必要なく測定が可能です。サンプルの粘度に適したセルをラインアップしています。


高濃度・低粘度セル


高濃度・高粘度セル(ペーストセル)

試料粘度

低粘度~中粘度

中粘度~高粘度

光路長

スペーサで正確に設定可能
1~500um

マイクロメータで調整可能

代表アプリケーション

濃度依存性の測定

磁性粒子の測定

光路長を変化させることで、濃度を振って試料の測定が可能です。希釈倍率ごとの凝集状態の解析ができ、凝集性の分析が行えます。

高粘度のシリコンオイルに磁性粒子を練り混ぜることによって、凝集を強制的に剥がすことができます。この状態で測定することにより、一次粒子の粒子径測定が可能です。



サンプルを希釈せず、高濃度での分散状態を見たい

高濃度での粒度分布測定で粒子分散の真の姿をとらえる。-高濃度での粒度分布測定-

 

高再現性を保つ光学系

高濃度試料の場合は粒子が固定された状態で測定するため、時間をかけて測ってもサンプリングした粒子のすべての情報が得られるわけではありません。したがって、なるべく大きな領域を測定できることが重要となります。LA-960V2の高濃度セルは、LA-960V2の大口径レンズによる大きな測定面積を最大限に活かす形状をしており、固定された試料の測定においても、測定の再現性を高める工夫がされています。

 

  • 極力希釈をしないで測定したいインク、塗料・顔料
  • 二次電池の正極材、負極剤など
  • 高粘度樹脂やポリマーに分散された微粒子

 


製造会社: HORIBA

仕様

測定原理

Mie散乱理論

測定粒子径範囲

0.01~3000μm

測定時間

通常は測定開始から約2秒

測定必要サンプル量

2.4uL~1.2mL(スペーサ厚による)

通信

USB2.0(装置本体~PC間)

光学系

光源:半導体レーザ(650nm)、5mW、LED(405nm)、3mW
検出器:リング状シリコンフォトダイオード、側方・後方シリコンフォトダイオード

使用温度・湿度

15℃~35℃、85%RH以下(ただし結露しないこと)

電源

AC 100-240V  50/60Hz、300VA

外形寸法

705 (W) × 565 (D) × 500 (H) mm

質量(測定部)

56kg

データ処理・操作部

PC:IBM PC/AT互換機 OS:Windows®10
プリンタ:Windows®10 対応プリンタ モニタ:Windows®10 対応モニタ
操作方式:Windows®10 の環境下でのマウス、キーボードによる入力

カタログ

レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2シリーズ 特長・仕様

レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2シリーズ アクセサリ・アプリケーション