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インライン・オンライン蛍光X線分析システム
蛍光X線分析装置MESA-50なら、希釈等の前処理不要で、めっき中の多元素を容易に測定することができます。また、X線検出部をめっき装置などに組み込むことにより、成分の濃度変化を連続的に測定可能です。
めっき液中の成分の濃度変化を把握することは、めっき製品を安定した品質で生産するために欠かせません。一般的にめっき液中の成分分析はICPが使用されていますが、めっき液を希釈するなど人的誤差が発生するリスクがある前処理が必要になります。本アプリケーションノートでは、蛍光X線分析装置MESA-50を用いた、希釈等の前処理不要でのめっき中の多元素同時分析事例や、フローセルを用いたメッキ液の成分濃度変化の連続測定事例を紹介します。また蛍光X線検出系をラインへ組み込めるもう一つの事例として、フィルム上のコーティング膜厚の連続測定事例も併せて紹介します。
卓上型蛍光X線分析装置