H-CLUE

Cathodoluminescence H CLUE MM Picture Fr

カソードルミネッセンス測定装置

H-CLUE は、カソードルミネッセンス・イメージングと分光分析のための究極のパフォーマンスを提供する 直接結合された高感度CLアドオンソリューションです。

H-CLUEは、現場で実証された堀場製作所の光学コンポーネントを組み込み、FUVから近赤外までの広いスペクトル範囲における感度で競合他社を圧倒しています。

また、偏光CL、RGB CL、角度分解CL(AR-CL)、時間分解CL(TR-CL)などのCLイメージングを可能にするOptiLinkモジュールを格納式ミラーインターフェースと分光器の間に搭載し、モジュール性と多様性を強調している。

Labspec 6 Simply Powerfulソフトウェアスイートで制御されるH-CLUEは、高速イメージングと分光分析のための高度な独自機能(KIAスペクトルデータベース、SWIFT、宇宙線除去、ピークフィット、粒子ファインダー、モザイク、多変量解析、高度3D表示・・・)を搭載しています。

事業セグメント: 科学
製造会社: HORIBA France SAS

直接結合された高感度CLアドオン検出器の特長

    • 広いスペクトル範囲マルチ検出器CLイメージンおよび分光器
    • iHR320: 1入力2出力ポート、7 mmスリット
    • PMT 185-900 nm、内蔵HV、CLLinkコントローラ
    • 電子冷却CCDオープン電極200-1100nm
    • LabSpec 6ソフトウェアによる制御
    • 精密な位置決め調整が可能な電動退避式位置調整機構
    • コントラスト、明るさ、ゲイン、逆信号、高電圧用のリモートコントロール
    • 角度分解CL、時間分解CL、偏光...
    スペクトル範囲

    UV - VIS - NIR
    自由空間アクロマティック結合

    ダイヤモンド回転式コレクションミラーパラボラアンテナ
    ショート&ロングワーキングディスタンス
    200mm リトラクタブルインターフェース真空下での微調整が可能な電動式
    CL画像検出器標準:アンビエントPMT搭載のパンクロマチックおよびモノクロマチックCL
    オプション:冷却型PMT、IGAモノチャンネル、フォトンカウンティングPMT、時間分解型PMT、RGBフィルター
    CL分光器タイプiHR 320、iHR 550(焦点距離320〜550 mm)、最大3つのグレーティングタレット、2入口/2出口
    可能なアップグレードPL、MicOSシステムからのアップグレード
    電子ビーム制御CL-LINKによる複数データ取得処理(アナログ、パルスモード、SE)、マッピングラインスキャン、ポイント計測、分光検出との同期、電子顕微鏡の外部スキャン入力制御
    点測定、分光検出との同期、電子顕微鏡の外部スキャン入力による制御など

    ソフトウェア

    LabSpec 6™ による分光と画像処理
    リモートコントローラーオプション
    CLUE アクセサリー偏光、NDフィルター、カメラ、EMCCDなど
    SEM アクセサリーLN2、Heクライオステージ、EBIC検出器、およびCLUEシリーズアドオン検出器を補完するその他の多くのアクセサリ
    Luminescent Defects in Synthetic CVD Diamond Films Localized by Cathodoluminescence Spectroscopy
    Luminescent Defects in Synthetic CVD Diamond Films Localized by Cathodoluminescence Spectroscopy
    The characterization of synthetic CVD diamond material by hyperspectral cathodoluminescence spectroscopy and imaging allows the detection and accurate location of the promising NV luminescent point defects for innovative solid-state quantum mechanical systems. In this work we performed CVD epitaxial growth on a pattern of micro-pillars etched on a diamond substrate. Cathodoluminescence (CL) analysis revealed that NV centres were successfully localized at the edges of the pillars.
    The Evaluation of Phosphor for White LEDs by CL Image
    The Evaluation of Phosphor for White LEDs by CL Image
    Phosphor plays a key role to obtain white light as for blue LED + phosphor and near ultraviolet LED + phosphors. In order to improve high bright white LEDs, it is necessary that the whole phosphor particle emits light homogeneously. When measuring with CL the phosphor used as white LED, the area which does not emit light in phosphor particle can be observed. CL system is used for evaluation of non-luminescent area to improve luminescent efficiency and characteristics.
    Defect Evaluation of GaN Epitaxial Wafer by CL
    Defect Evaluation of GaN Epitaxial Wafer by CL
    The threading dislocation occurs easily in GaN crystal grown on sapphire substrates. It is said that this is caused by the large lattice mismatch of sapphire and GaN. The crystal may seem to be uniform in the SEM image, but the dark spot such as the threading dislocation can be observed when measuring the CL intensity image at the wavelength (362nm) which corresponds to the band edge emission.

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