接着／接合
- 表面処理による深さ方向への元素プロファイル評価
- グロー放電発光表面分析装置による異種材料接合分析
- ラマンイメージング装置による界面状態評価
- ナノ粒子解析装置による表面ゼータ電位測定
- グロー放電発光表面分析装置による迅速分析
- グロー放電発光表面分析装置による密着性評価
- 酸素・窒素・水素分析装置の昇温分析機能によるめっき皮膜および材料中酸素の定量分析
- 微小部X線分析装置による元素マッピング
- 高光沢グロスチェッカによる光沢測定
表面処理による深さ方向への元素プロファイル評価
グロー放電発光表面分析装置による異種材料接合分析
マルチマテリアル化や異種材料の組合せなど、自動車用途における接合は材料特性や経済性を鑑みて、長所を活かすため研究が進められています。GD-Profiler 2なら、高真空不要で迅速な深さ方向元素分析が可能です。
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置
GD-Profiler2
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迅速かつ簡単に深さ方向の元素分布を評価
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H～Uまで検出可能
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化合物半導体薄膜の研究開発・生産技術・品質管理の分野で幅広く活用
多層ポリマーの3Dイメージング
ラマンイメージング装置による界面状態評価
多層ポリマーの研究では、プロセス中に発生した欠陥や界面状態の観察が重要です。独自のQScan™（オプション）技術により、ステージを動かさずレーザを走査し、共焦点性を保ちながら、高速にラマンイメージング測定を実現します。
ラマンイメージング装置
LabRAM Soleil
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さらに進化した高速・高機能共焦点イメージングを実現
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ワークフローの高速化・簡易化を実現
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ワンパッケージ化（ < 1 m² ）と高い拡張性
金属板表面の粒子吸着性評価
ナノ粒子解析装置による表面ゼータ電位測定
金属板表面の帯電状態を調べることで金属表面への粒子やイオン吸着性評価、塗装性や研磨性能を知ることができます。ゼータ電位（帯電をあらわす値）溶液中における固体表面の評価がよく利用されます。粒子の移動速度によりゼータ電位が求められ、モニター粒子と板表面との静電的な相互作用により生じる粒子の移動速度の変化から、板表面のゼータ電位を知ることができます。
ナノ粒子解析装置
nanoPartica SZ-100V2
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1台3役 粒子径・ゼータ電位・分子量測定
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粒子径0.3 nm～10 μm、ゼータ電位 －500～＋500 mVまで対応
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ppmオーダの希薄系から数10％レベルの高濃度試料まで対応
コーティング材料のめっき厚管理
グロー放電発光表面分析装置による迅速分析
一般的に行われる深さ方向元素分析であるXPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)では1検体の分析に半日以上の時間がかかる場合があります。 迅速分析を実現するGD-Profiler2は、開発過程で求められる多検体の評価も可能です。
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置
GD-Profiler2
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迅速かつ簡単に深さ方向の元素分布を評価
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H～Uまで検出可能
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化合物半導体薄膜の研究開発・生産技術・品質管理の分野で幅広く活用
Cu箔基板上のNiめっき中の水素分析
グロー放電発光表面分析装置による密着性評価
めっきの密着性を左右する界面の水素の分析が可能です。
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置
GD-Profiler2
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迅速かつ簡単に深さ方向の元素分布を評価
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H～Uまで検出可能
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化合物半導体薄膜の研究開発・生産技術・品質管理の分野で幅広く活用
鉄鋼板上めっき皮膜中酸素分析
酸素・窒素・水素分析装置の昇温分析機能によるめっき皮膜および材料中酸素の定量分析
めっきの色や皮膜の密着性に影響する酸素濃度を測定することができます。これまでの鉄鋼中の酸素と混合されてしまい、めっき皮膜のみに含まれる酸素濃度が分からない、めっき膜が薄いため削り出しは難しいうえに、めっき皮膜を削り出しても重量が少なく測定が難しいといった課題を解決します。
酸素・窒素分析装置
EMGA-920
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測定濃度ワイドレンジ 酸素 〜5%(m/m)、窒素 〜3%(m/m)
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高精度でスピーディな元素分析を実現
めっき（リン酸アルミ皮膜）ムラの確認
微小部X線分析装置による元素マッピング
酸化防止用途で塗布されるリン酸アルミは、不適切な場所に塗布されると製品不具合を生む危険があるため、塗布状態の確認が必要です。目視での判別は困難ですが、XGTなら非破壊でリン（P）の分布状態をマッピング分析から把握することができました。
微小部X線分析装置
XGT-9000
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前処理不要・非破壊で簡単元素分析
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微小な領域でも高精細な光学観察で測定ポイントに迅速アクセス
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多彩な画像解析ソフトも充実
めっき表面の仕上がり確認
高光沢グロスチェッカによる光沢測定
金属用光沢計IG-410は、めっきやアルミ、ステンレスなど、高光沢領域のサンプル表面の光沢測定が可能です。小型・軽量で操作も簡単なため、生産現場などに持ち込んで誰でも簡単に表面の仕上がり状態を評価することができます。
高光沢グロスチェッカ
IG-410
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金属などの高光沢領域でも、“あいまい”を数値化
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現場での測定が簡易な小型・軽量設計
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2レンジ切替で低光沢も測定可能
