微粒子状物質（PM）の質量濃度と元素分析の同時測定

組み合わせ測定

従来、ICPや原子吸光法などを用いて分析されていたPMの成分分析を、HORIBA独自の低バックグランド捕集フィルタを採用した蛍光X線分析装置で実現しました。PMを捕集しながらPM質量濃度も測定できるため、PMの質量濃度と各元素の濃度を比較測定するなど、PM発生源推定の指標となるデータを取得できます。