特長の説明

燃焼ダスト清掃機構

Table 2 連続測定後の各エリアのダスト量(g)
Table 2 連続測定後の各エリアのダスト量(g)

燃焼は高周波燃焼方式において重要な要素であるが,発生するダストは燃焼後の検出ガスを吸着するなどの問題を有している。そのため以前から,分析精度に影響する燃焼炉内清掃はいろいろな方式を試みてきた。従来から用いていた金属ブラシにて燃焼管,ダストフィルタに付着したダストをこそぎ落とす方式を見直し,新たな清掃機構を開発した。新しい清掃機構を用いることでフィルタ部に付着したダストを効率よく除去でき,燃焼炉内の残存ダスト量の低減を実現した(Table 2)。

分析に影響するダストを燃焼炉内から排除することができ,「誰でも「Pro」レベルの測定が行える」を実現した。その効果をFigure 6に示す。さらに新たな清掃機構を採用することにより,従来装置に比べ10秒程度時間短縮が可能であり,スループット向上も図っている。

Figure 6
Figure 6

容易な保守

「誰でも「Pro」レベルの測定が行える」を実現するためには,簡単・迅速に且つ確実な保守が必要である。従来機での課題,

  1. 作業個所に手が入らない
  2. 作業そのものが多い
  3. 工具が必要

を踏まえ,これらを排除して装置設計を行い,保守にかかる時間を1/5に短縮した。(Figure 7)

Figure 7 主に保守が必要な個所
Figure 7 主に保守が必要な個所

ガス吸着対応

分析精度に影響を与えるガス吸着に対しても基本構造から見直しを実施した。

 1. ダストとの接触部分の表面積低減

  • 金属フィルタ面積25%低減
  • 石英管延長

 2. フィルタ加熱機構…Expert専用

炉内清掃後の状態からの硫黄分析において,効果を確認した。Table 3に示すように1ppm程度の吸着は認められるが従来から1/3に低減している。またフィルタ加熱機構を採用した場合,バラツキ内に含まれ無視できるレベルである。

Table 3 ガス吸着改善効果
Table 3 ガス吸着改善効果

硫黄吸着量(XS)は以下の計算式により,算出する。
  XS=XN6-10-X1
XN6-10:N=6からN=10までの平均値    X1:N=1の測定値

分かり易い操作性

Figure 8 基本画面
Figure 8 基本画面

ソフトウエア開発において,

  1. 直感的に機能を理解できるアイコン
  2. 画面内の情報量を必要最低限で分かり易いこと

を目的とした。基本画面をFigure 8に示す。使用される場面に応じてタグを切り替えが可能。加えて

  1. 分析ナビ
  2. 保守ナビ
  3. トラブルシューティングナビ

を搭載し,「誰でも「Pro」レベルの測定が行える」を実現している。


 高精度分析のために