R-CLUE

Cathodoluminescence R-CLUE MM Picture Fr

カソードルミネッセンス測定装置

R-CLUE は、ラマン、フォトルミネッセンス、カソードルミネッセンスのイメージングと分光分析を行うファイバ結合多機能SEM-Raman-PL-CLアドオンソリューションです。

R-CLUEは、HORIBA ScientificのラマンおよびPL分光のノウハウを生かし、現場で実証された光学コンポーネントを使用しており、光学的安定性、再現性、収集効率を保証しています。

SEMの内外に設置可能なコンパクトなフットプリントと、分離された分光モジュールにより、様々な試料室に設置することが可能です。

R-CLUE は、格納式パラボラミラーの位置からレイリーフィルターの交換、グレーティングと検出器の選択まで、完全に自動化されコンピュータ制御されているため、分光専門家ではないユーザーにも迅速に導入することができます。

Labspec 6 Simply Powerful ソフトウェアスイートで制御される R-CLUE は、高速イメージングと分光分析の両方に対応する高度な独自機能(KIA スペクトルデータベース、SWIFT、宇宙線除去、ピークフィッティング、粒子ファインダー、モザイク、多変量解析、高度な 3D ディスプレイ...)を備えています。

事業セグメント: 科学
製造会社: HORIBA France SAS

ファイバ結合多機能SEM-Raman-PL-CLアドオン検出器の特長

    • 既設のラマン顕微鏡をアップグレード可能
    • 走査型電子顕微鏡イメージング&分光法用のマルチレーザーおよびマルチ検出器ラマン、PLおよびCLアドオン
    • 様々な焦点距離分光計
    • 電子冷却CCDオープン電極200-1100nm
    • LabSpec 6ソフトウェアによる制御
    • 精密な位置決め調整が可能な電動退避式位置調整機構
    • コントラスト、明るさ、ゲイン、逆信号、高電圧用のリモートコントロール
    スペクトル範囲UV-VISまたはVIS-NIRファイバーに依存
    ダイヤモンド回転式コレクションミラーパラボラアンテナ
    ショート&ロングワーキングディスタンス
    200mm リトラクタブルインターフェース真空下での微調整が可能な電動式
    CL画像検出器標準:アンビエントPMT搭載のパンクロマチックおよびモノクロマチックCL
    オプション:冷却型PMT、IGAモノチャンネル、フォトンカウンティングPMT、時間分解型PMT、RGBフィルター
    CL分光器タイプiHR 320、iHR 550(焦点距離320〜550 mm)、最大3つのグレーティングタレット、2入口/2出口
    可能なアップグレードLabRAM HRシリーズからのアップグレード
    電子ビーム制御CL-LINKによる複数データ取得処理(アナログ、パルスモード、SE)、マッピングラインスキャン、ポイント計測、分光検出との同期、電子顕微鏡の外部スキャン入力制御
    点測定、分光検出との同期、電子顕微鏡の外部スキャン入力による制御など

    ソフトウェア

    LabSpec 6™ による分光と画像処理
    リモートコントローラーオプション
    CLUE アクセサリー偏光、NDフィルター、カメラ、EMCCDなど

    SEM アクセサリー

    LN2、Heクライオステージ、EBIC検出器、およびCLUEシリーズアドオン検出器を補完するその他の多くのアクセサリ
    Defect Evaluation of GaN Epitaxial Wafer by CL
    Defect Evaluation of GaN Epitaxial Wafer by CL
    The threading dislocation occurs easily in GaN crystal grown on sapphire substrates. It is said that this is caused by the large lattice mismatch of sapphire and GaN. The crystal may seem to be uniform in the SEM image, but the dark spot such as the threading dislocation can be observed when measuring the CL intensity image at the wavelength (362nm) which corresponds to the band edge emission.
    Luminescent Defects in Synthetic CVD Diamond Films Localized by Cathodoluminescence Spectroscopy
    Luminescent Defects in Synthetic CVD Diamond Films Localized by Cathodoluminescence Spectroscopy
    The characterization of synthetic CVD diamond material by hyperspectral cathodoluminescence spectroscopy and imaging allows the detection and accurate location of the promising NV luminescent point defects for innovative solid-state quantum mechanical systems. In this work we performed CVD epitaxial growth on a pattern of micro-pillars etched on a diamond substrate. Cathodoluminescence (CL) analysis revealed that NV centres were successfully localized at the edges of the pillars.
    The Evaluation of Phosphor for White LEDs by CL Image
    The Evaluation of Phosphor for White LEDs by CL Image
    Phosphor plays a key role to obtain white light as for blue LED + phosphor and near ultraviolet LED + phosphors. In order to improve high bright white LEDs, it is necessary that the whole phosphor particle emits light homogeneously. When measuring with CL the phosphor used as white LED, the area which does not emit light in phosphor particle can be observed. CL system is used for evaluation of non-luminescent area to improve luminescent efficiency and characteristics.

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