先端材料
二次元材料
TERS・TEPLスペクトルによるMoS₂剥片のイメージング
二次元材料のAFM像、TERS像、TEPL像を同時に取得。立体形状や構造情報（層数・欠陥・結晶性など）を解析できます。
ラマンスペクトルによるグラフェン層数の判別
ラマン分光分析で化学情報を取得するだけでなく、AFMと組み合わせることで、表面形状や物理情報まで同時に取得可能です。
AFM(原子間力顕微鏡)ラマン
XploRA Nano
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AFMによる物理情報とラマンによる化学情報を同時に取得
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nmオーダの最表面の応力分布分析が可能
炭素繊維
CFRPの偏光測定
試料への入射光と試料からの散乱光の偏光方向を変えながらラマンスペクトルを取得しました。配向状態により、ピークの違いが得られ、CFRP材料中の炭素繊維の配向性を評価できました。
顕微レーザラマン分光測定装置
LabRAM HR Evolution
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高い拡張性を持つHORIBAのフラッグシップラマン分光装置
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角度調整機能を持つ偏光オプション
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高感度偏光測定を可能とする光学系
CNF材料
CNFハイドロゲルの網目サイズ測定
nanoPartica SZ-100V2のゲル解析ユニットを使用することで、ゲルの網目サイズが変化することを確認。 CNFの濃度が上がると密度が高くなり、網目サイズが細かくなります。測定結果より、網目サイズとCNF濃度の間には相関性を確認できました。
ナノ粒子解析装置
nanoPartica SZ-100V2
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中性子散乱といった大型設備やゲルを凍結し低真空SEMで観察していた従来法ではできなかった、ゲル本来の構造観察が可能
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ゲルの機能設計に必要なゲル内部状態評価が可能
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温調機能でゲルの温度影響を評価可能
量子ドット
量子ドットのEEM（励起蛍光マトリクス）測定
吸収波長範囲の広さを近赤外領域まで数十秒のEEM測定で判定可能。量子ドットの粒子サイズの違いによる発光特性を評価できます。
蛍光吸光分光装置
Duetta
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100 ミリ秒以下の時間間隔での高速スペクトル測定を実現
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1,100nm までのスペクトル測定が可能
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蛍光と吸光が同時に測定可能
光通信材料
希土類錯体の近赤外蛍光測定
Nanologでは1600 nmまでの近赤外蛍光スペクトルを容易に取得できます。
量子ドットの近赤外発光寿命測定
Nanologでは近赤外領域の蛍光寿命を容易に評価できます。
モジュール型近赤外高速蛍光分光測定装置
NanoLog
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近赤外・発光寿命測定拡張可能
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紫外〜近赤外領域の蛍光測定に対応可能
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多彩なアタッチメントで多様なアプリケーションに対応可能
有機薄膜
多層フィルムの膜厚・膜質解析
水素・酸素などの侵入を防ぐバリアフィルムの膜厚や透明性、密着度を評価できます。
分光エリプソメータ
UVISEL Plus
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Åオーダの膜厚の光学定数評価
機械的動作を伴わない位相変調方式と温調機能により、振動などの影響を抑え、高いSN比で信頼性のある評価が可能です。
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85 μmまでの膜厚評価（膜の状態に依存）
高い波長分解能と独自の光学系により、広いレンジの膜厚評価が可能です。
有機EL材料の蛍光・発光寿命測定
有機ELはさらなる発光効率の向上や寿命の改善を目指して、材料の研究・開発から品質管理まで幅広く使われています。
近赤外蛍光分光光度計
FluoroMax Plus
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高感度で拡張性の高いベンチトップ型蛍光分光光度計
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拡張することで発光スペクトルだけでなく、さまざまな発光評価に必要なパラメータ（りん光・発光寿命・量子収率・温度依存性など）も評価可能
蛍光寿命測定装置
DeltaFlex
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PL寿命測定により、キャリア寿命の違いを観察
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多彩な光源波長レパートリ
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ピコ秒から数秒のワイドレンジのPL寿命に対応
単分子膜
単分子膜の配向性評価
100eV以下の極低イオンエネルギースパッタリングにより、分子レベルの深さ分解能で表面近傍を分析でき、単分子膜の配向性を評価できます。
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置
GD-Profiler2
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迅速かつ簡単に深さ方向の元素分布を評価
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H～Uまで検出可能
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化合物半導体薄膜の研究開発・生産技術・品質管理の分野で幅広く活用
